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- 公司名稱 廣州市本原納米儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 廣州市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/9/27 14:30:18
- 訪問次數(shù) 42
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NanoSensors由原IBM公司的納米技術(shù)專家OladfWolter博士于1991年創(chuàng)建
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NanoSensors由原IBM公司的納米技術(shù)專家Oladf Wolter博士于1991年創(chuàng)建。NanoSensors公司是世界上重要的面對(duì)提供高品質(zhì)AFM探針的廠家。 NanoSensors出產(chǎn)的針尖曲率半徑小于10nm的AFM硅探針,對(duì)世界上許多重大的科學(xué)成果都有著貢獻(xiàn)。在多年間,NanoSensors不斷創(chuàng)新技術(shù),擴(kuò)展了AFM探針的種類,并獲得多個(gè)國(guó)際獎(jiǎng)項(xiàng)。 2002年,NanoSensors加入瑞士的NanoWorld集團(tuán),繼續(xù)堅(jiān)持為的科研工作者提供品質(zhì)的AFM探針。 進(jìn)入NanoSensors網(wǎng)站 | |||
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NanoSensors常用的產(chǎn)品 | |||
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| PPP-NCHR | ||
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| PPP-CONTR | ||
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| PPP-MFMR | ||
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NanoSensors產(chǎn)品概覽
PointProbe Plus (PPP)系列 常用探針 PointProbe Plus系列探針為NanoSensors的最被廣泛使用的探針,適用于大部分的應(yīng)用及商品化的AFM。 PointProbe Plus系列探針的針尖典型曲率半徑為小于7nm,可實(shí)現(xiàn)高分辨率的應(yīng)用。整個(gè)系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性。 | ||
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| SuperSharp Silicon (SSS)系列 超尖探針 SuperSharp Silicon系列探針使用特別的針尖制作技術(shù)生產(chǎn),專門為超高分辨的成像所設(shè)計(jì)。 SuperSharp Silicon系列探針的針尖典型曲率半徑為小于2nm,實(shí)現(xiàn)超高分辨率的應(yīng)用。整個(gè)系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性。 | |
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| High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列 AR系列探針專門為測(cè)量具有大長(zhǎng)徑比或垂直臺(tái)階結(jié)構(gòu)的樣品而設(shè)計(jì)。 AR系列探針具有接近垂直的針尖,總體針尖長(zhǎng)度達(dá)到10-15um,針尖的曲率半徑小于5度(AR10小于2.8度)。 | |
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| Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列 金剛石鍍層探針 DT(金剛石)和CDT(導(dǎo)電金剛石)系列探針適用于針尖與樣品之間需要大接觸力的情況,同樣也應(yīng)用于摩擦力測(cè)量、樣品彈性測(cè)量等。 | |
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| MFM 磁力顯微鏡探針 多種規(guī)格(硬磁或軟磁)的磁力顯微鏡探針專門為不同的材料及應(yīng)用而設(shè)計(jì)。所有探針的磁性鍍層,均具有的穩(wěn)定性。 | |
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| Carbon Nanotube (CNT)系列 碳納米管探針 Carbon Nanotube探針是專門為需要超高分辨率、高速掃描及弱探針-樣品作用力的應(yīng)用而設(shè)計(jì)的。 碳納米管探針使用化學(xué)沉積的方法,在PPP系列針尖的處,生長(zhǎng)出碳納米管,從而具有最小的針尖曲率半徑、超高的長(zhǎng)徑比及的耐磨性。CNT系列在NanoSensors的全部探針中,能獲得的分辨率。 | |
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| AdvancedTEC (ATEC)系列 AdvancedTEC系列探針,在懸臂的最邊緣處具有四面體形狀的針尖。這種的技術(shù)使得ATEC系列探針可以從上方觀察到針尖的探針,從而使得用戶可以獲得精確的針尖-樣品定位。 | |
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| Plateau (PL)系列 Plateau系列探針,使用離子束切割技術(shù),將傳統(tǒng)錐形的針尖弄鈍,在針尖處形成一個(gè)直徑為1.8μm的圓形平臺(tái),為用戶的特殊應(yīng)用提供了個(gè)性化的探針。 | |
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| Transfer Standards /Calibration Standards 標(biāo)準(zhǔn)樣品 NanoSensors提供的高精度標(biāo)準(zhǔn)樣品包括: 1. 二維正交標(biāo)準(zhǔn)樣品:周期分別為100nm、200nm和300nm。 2. 高度標(biāo)準(zhǔn)樣品:臺(tái)階高度為8nm。 3. 粗糙度標(biāo)準(zhǔn)樣品:100um以內(nèi)的峰峰值小于10nm。 | |
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