一、亮點(diǎn)
1）600kcps------高分析通量
分析速度
2）121eV------峰值分辨率
輕元素分析的能量分辨率
3）4------EDS 探測(cè)器組合
使用多個(gè)探測(cè)器或探測(cè)器陣列實(shí)現(xiàn)信號(hào)通量
4）具有細(xì)管徑技術(shù)的EDS，適合您的 SEM、FIB 和 EPMA
再一次，布魯克為掃描電子顯微鏡的能量分散光譜設(shè)定了性能和功能標(biāo)準(zhǔn)。新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探測(cè)器系列，探測(cè)器的有效面積為 10 至 100 mm2。
二、優(yōu)勢(shì)：
第 6 代 EDS 提供硬件和軟件技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)、的結(jié)果：
1）節(jié)省時(shí)間 - 擁有細(xì)管徑技術(shù)的新型探測(cè)器、大面積硅漂移探測(cè)器、可控制多個(gè)探測(cè)器以及具有高性能的脈沖處理器，更快地完成工作
2）節(jié)省工作量 - 電動(dòng)馬達(dá)控制探測(cè)器移動(dòng)和迷你輕質(zhì)的設(shè)計(jì)，讓探測(cè)器使用起來(lái)更加輕松
3）獲得更高的精度 - 能量分辨率提供質(zhì)量的譜圖，非常適合用于精確分析
4）獲得更棒的可靠性 - 全面的原子數(shù)據(jù)庫(kù)確保的低能量峰值識(shí)別
5）獲得更高的精度 - 的定量算法、基于標(biāo)樣的定量方法和的有標(biāo)樣和無(wú)標(biāo)樣定量組合提供精度的定量結(jié)果
6）提升元素分析效率！
a) 布魯克 EDS 可與每一款電子顯微鏡適配的安裝、并提供的速度和精度，這使得布魯克 EDS 為任何實(shí)驗(yàn)室提供了大的 EDS 系統(tǒng)。此系統(tǒng)包括光譜成像，使微納米分析不再是一個(gè)挑戰(zhàn)。
b) XFlash® 系列還為 TEM 和 STEM 提供優(yōu)化解決方案，以及的XFlash® FlatQUAD，一種用于困難樣品表征的探測(cè)器。
c) 此外，EDS 可以與 EBSD、Micro-XRF 和 WDS 的無(wú)縫集成一款軟件中，布魯克的 ESPRIT 為任何 SEM、FIB 和 EPMA 提供了面的分析平臺(tái)。
三、相關(guān)應(yīng)用圖片
