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- 公司名稱 武漢瑞德儀科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 武漢市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/9/27 15:00:42
- 訪問次數(shù) 76
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JPK提供模塊化的測(cè)力型光鑷和光勢(shì)阱捕獲平臺(tái),廣泛應(yīng)用于從單分子到活細(xì)胞的應(yīng)用研究
操控與測(cè)力一體化 NanoTrackerTM 2納米光鑷的特點(diǎn):
1)飛牛(Femto-Newton)級(jí)別敏感度與亞納米精度的3D力學(xué)測(cè)量
2)的穩(wěn)定性與的噪聲水平、確測(cè)量的
3)同時(shí)熒光成像
4)強(qiáng)有力而靈活的控制與數(shù)據(jù)分析軟件
5)Class 1 激光安全保證
6)靈活、模塊化的設(shè)計(jì)適應(yīng)于從單分子到活細(xì)胞的大尺度范圍
nanoTracker TM 2 技術(shù)規(guī)格
系統(tǒng)概覽
-Zeiss Axiovert 200和 Axio Observer
-TE 2000和Eclipse Ti
-IX70/71/73
NanoTracker™2頭部
NanoTracker™2樣品載具選項(xiàng)
NanoTracker™2激光單元
NanoTracker™控制單元
NanoTracker™2控制器
NanoTracker™2軟件
靈活多樣的附件
工作模式
應(yīng)用領(lǐng)域
單分子和生物聚合物
細(xì)胞生物學(xué)應(yīng)用
細(xì)胞-顆粒相互作用與感染研究
其他高級(jí)研究
光學(xué)顯微鏡模式
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