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簡介
此硅錠PL設備為硅片生產者提供把控硅錠質量的有效途徑
硅錠的質量決定了最終制成電池片的效率。
通過評估硅錠PL圖像中絨絲占比與黑斑占比等條件，可預測出硅錠效率參考值。
通過硅錠評估測試結果，可以協助優(yōu)化生產工藝。
產品特性
每塊硅錠檢測整體耗時小于30s
無接觸式檢測，不會對硅錠造成二次損傷
提前篩選出問題硅錠，節(jié)約制造成本
自動檢測硅錠內絨絲占比，預估效率參考值
技術指標
可檢測缺陷： 絨絲、黑斑等 相機類型： 高清紅外線掃工業(yè)相機 適用硅錠高度規(guī)格： 156~400mm
硅錠PL圖像
短錠圖像
長錠圖像
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