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AS2-500 兩槽式冷熱沖擊試驗箱500L

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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溫度沖擊試驗箱,又稱高低溫沖擊試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、冷熱沖擊試驗機(jī),適用于對電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫溫度冷熱沖擊試驗的環(huán)境試驗箱設(shè)備,可滿足電工電子產(chǎn)品及設(shè)備等環(huán)境試驗 - 高溫試驗/低溫試驗/溫度變化試驗/高低溫沖擊試驗/溫度沖擊試驗/冷熱沖擊試驗。

詳細(xì)信息 在線詢價

| 產(chǎn)品介紹

兩槽式冷熱沖擊試驗箱500L

AS2-500

突出特點:

雙門兩槽式結(jié)構(gòu),溫度橫向沖擊,適用于高度有限的場地使用。500L超大空間

前視圖
開箱視圖
后視圖

合作案例

技術(shù)參數(shù)

注:以上技術(shù)參數(shù)為室溫+20℃或循環(huán)水溫+25℃、空載(無試樣)時下所測得。

試驗標(biāo)準(zhǔn)及方法

1)GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;
2)GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
3)GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
4)GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
5)GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗;
6)GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗;
7)GJB/T 150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。

標(biāo)準(zhǔn)配置

試品架2套、直徑50MM測試孔軟塞一套、操作說明書保養(yǎng)手冊、本設(shè)備出廠前經(jīng)本公司質(zhì)量檢驗中心檢測,并出具有效期為一年的檢驗報告。


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