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HAST加速老化試驗箱--產(chǎn)品用途試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)
HAST加速老化試驗箱--產(chǎn)品用途
試驗目的是為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，隨著半導體可靠性的提高，大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。
HAST加速老化試驗箱--結構特點
·全彩7 ’TFT中/英文觸控控制系統(tǒng)
·0.1℃/0.1%RH/0.1kg/cm2 精確解析能力
·520 HOURS 59MIN/STEP 每段可控時間
·50 program共12500step程序記憶容量
·USB2.0儲存接口與曲線記錄及下載
·全自動控制與安全保護協(xié)調(diào)系統(tǒng)
·預約啟動設定，運轉預計結束時間表示，通電時間積算，運行時間積算
·牌結束規(guī)劃（程序連接,轉到定值，停機等）
·可通過因特網(wǎng)遠距離監(jiān)控機器運行情況，及遠程操控機器）
控制精度 | 溫度:±0.3%F.S+1digit，濕度：±1.0%RH+1digit，壓力：±0.2%F.S+1digit |
分辨率 | 溫度：0.1，濕度：0.1，壓力:0.1 |
測定周期 | 0.6秒（溫度、濕度各0.3秒） |
程序組容量 | 50PATTERN（組）/12500STEP（段） |
STEP（段）時間 | 0-520H59M可調(diào) |
循環(huán)次數(shù) | 每組程序可設1-32000次（小循環(huán)可設1-32000次） |
TROUBLEIN | 全機報警動作相關處理咨詢 |
歷史數(shù)據(jù)表示 | PV實際值/SV設定值按采樣周期記錄保存 |
1.曲線，歷史數(shù)據(jù)可由USB按日期選擇拷貝 | |
2.按60秒采樣，可記錄保存60天數(shù)據(jù)及曲線 | |
通信機能 | 附標準RS-232接口或因特網(wǎng)聯(lián)機界面（需訂貨時說明） |
試驗名稱登錄 | 可任意登錄250組中英文試驗名稱 |
LCD背光燈及屏幕鎖 | 背光燈保護0-99分可設，憑權限密碼進入 |
內(nèi)存 | 數(shù)據(jù)記憶保存EEPROM （可保存15年以上） |
附加功能 | 預約起動設定，通電時間積算，運轉時間積算，結束規(guī)劃等 |
HAST加速老化試驗箱--符合標準
IEC 60068-2-66-1994環(huán)境試驗第2-66部分:試驗方法試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD 22-A102-B加速抗潮性.非偏離的高壓滅菌器
EIAJED4701
EIA/JESD22
GB/T 2423.40-2013環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
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