X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能,而且

X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能,而且。分析鍍層厚度和元素成份同時(shí)進(jìn)行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實(shí)用，準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首要選擇。

Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點(diǎn)：

ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術(shù)，該技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。

產(chǎn)品功能：

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

2. 鍍層層數(shù)：多至5層。

3. 測量點(diǎn)尺寸：圓形測量點(diǎn)，直徑約0.2-0.8毫米。

4. 測量時(shí)間：通常35秒-180秒。

5. 樣品尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。

6. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

8. 同時(shí)定量測量8個(gè)元素。

9. 定性鑒定材料達(dá)20個(gè)元素。

產(chǎn)品參數(shù)：

· X射線光管 微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據(jù)軟件控制優(yōu)化

· 探測器 高分辨氣體正比計(jì)數(shù)探測器

· 準(zhǔn)直器 單一固定準(zhǔn)直器直徑0.3mm

· 樣品倉 330 x 200 x 170 mm

· 樣品臺(tái) 手動(dòng)Z軸樣品臺(tái)

· 電源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 儀器尺寸 350 x 420 x 310 mm

1.操作簡單，只需要很少的培訓(xùn)就可以操作

2.檢測速度快，無損檢測只需幾秒鐘

3.可測試單層及多層鍍層的厚度

4.可以測試電鍍液中金屬離子含量

5.對(duì)測試樣品無損

6.市場上的高性價(jià)比

7.自動(dòng)化批量檢測：可選配XYZ全自動(dòng)工作臺(tái)

8.應(yīng)用行業(yè)廣泛：電子，珠寶，金屬加工等等