型試片（QQI試片）

符合JB/T6065-92標(biāo)準(zhǔn)，DT4A電磁純鐵板，供貨狀態(tài)符合GB6985-1986的規(guī)定，軋制到試片厚度后經(jīng)600℃真空退火處理。 分A1、A2、A3三種形式，試片邊長(zhǎng)20×20mm，相對(duì)槽深/板厚（μm）有7/50、15/50、15/100、30/100四種規(guī)格。

B型標(biāo)準(zhǔn)缺陷試塊

直流環(huán)形標(biāo)準(zhǔn)試塊，又稱Betz塊，用于校驗(yàn)直流磁粉探傷機(jī)。符合JB/T6066-1992標(biāo)準(zhǔn)。 采用經(jīng)退火處理9CrWMn鋼鍛件，其硬度為90-95HRB，晶粒度不低于4級(jí)。試塊上有12個(gè)1.78mm通孔，距表面深度從1.8～21.34mm,按等差排布，相鄰兩孔間深度差為1.8mm。

E型標(biāo)準(zhǔn)缺陷試塊

符合JB/T6066-1992標(biāo)準(zhǔn)；用于交流磁粉探傷機(jī)。 用經(jīng)退火處理，晶粒度不低于10級(jí)的鋼鍛件制成； 試件上鉆有三個(gè)1mm的通孔，孔心距試件表面分別為1.5、2.0、2.5mm。

環(huán)形標(biāo)準(zhǔn)試塊

多方位顯示磁痕，可清晰的顯示試塊所在部位各方向的磁感應(yīng)情況。