主要特點(diǎn)：
● 支柱瓷絕緣子及瓷套檢測(cè)專(zhuān)用，貼合用戶(hù)習(xí)慣，操作簡(jiǎn)易。
● 嵌套式通道，50個(gè)獨(dú)立探傷通道（可擴(kuò)展）
爬波檢絕緣子探傷（1A、1B、1C、1D、1E、1F、1G、1H、1I、1J）
爬波檢瓷套探傷 （2A、2B、2C、2D、2E、2F、2G、2H、2I、2J）
縱波小角度探傷 （3A、3B、3C、3D、3E、3F、3G、3H、3I、3J）
橫 波 探 傷 （4A、4B、4C、4D、4E、4F、4G、4H、4I、4J）
通 用 探 傷 （5A、5B、5C、5D、5E、5F、5G、5H、5I、5J）
探傷工作時(shí)只需調(diào)出預(yù)存探傷通道即可。
● “工藝”按鍵，實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)提示功能，檢測(cè)步驟一目了然。
● 儀器根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)確定探傷靈敏度，可記憶探傷靈敏度并智能恢復(fù)。
● 缺陷回波參數(shù)（距離、垂直、水平、波幅、dB或當(dāng)量孔徑值）實(shí)時(shí)顯示；多次波探測(cè)缺陷的實(shí)際深度可直接顯示。
● 濾波頻帶可調(diào)，并具有射頻顯示，適用于各種工件的探傷。
● DAC、AVG曲線自動(dòng)生成并能分段制作，取樣點(diǎn)不受限制，并可進(jìn)行補(bǔ)償與修正。DAC曲線隨增益自動(dòng)浮動(dòng)、隨聲程自動(dòng)擴(kuò)展、隨延時(shí)
● 數(shù)據(jù)處理能力強(qiáng)，可按日期、存儲(chǔ)編號(hào)和序號(hào)進(jìn)行檢索和處理，高可靠數(shù)據(jù)保護(hù)，高速數(shù)據(jù)接口，快速實(shí)現(xiàn)報(bào)告打印。
● 數(shù)據(jù)調(diào)用功能可將工藝等數(shù)據(jù)覆蓋選擇的通道，探傷工作時(shí)只需調(diào)用預(yù)存的數(shù)據(jù)，可方便實(shí)現(xiàn)多個(gè)通道的一次性設(shè)置。
● 具有智能拼音輸入法、區(qū)位碼輸入法，可方便快捷地輸入漢字、符號(hào)。
● 配置高容量鋰電池，待機(jī)時(shí)間長(zhǎng)。儀器重量?jī)H1.4kg，體積小巧，攜帶使用輕松自如。
● 可外接U盤(pán)，實(shí)時(shí)連續(xù)記錄動(dòng)態(tài)波形。
技術(shù)參數(shù)：
項(xiàng)目 | 指標(biāo) | 項(xiàng)目 | 指標(biāo) |
頻帶寬度 | 0.4～15.0MHz | 靈敏度余量 | ≥60dB （200mm—Φ2平底孔，2.5PΦ20） |
增益范圍 | 120dB
0.1,1.0,2.0,6.0步進(jìn) | 探頭類(lèi)型 | 單晶、雙晶、穿透 |
動(dòng)態(tài)范圍 | ≥32dB | 聲程位移 | 0～7000mm（鋼中縱波） |
垂直線性 | ≤3% | 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 50個(gè)獨(dú)立探傷通道，1000幅探傷數(shù)據(jù) |
水平線性 | ≤0.3% | 顯 示 | TFT真彩顯示器 |
檢測(cè)范圍 | 0～7200mm（鋼中縱波） | 電 源 | 16V DC；220V±10%，50Hz AC |
分 辨 力 | ≥45dB（5PΦ10） | 整機(jī)重量 | 1.4Kg（含鋰電池） |
如相關(guān)產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)發(fā)生更改，恕不另行通知。
選項(xiàng)清單
20只/套支柱絕緣子與瓷套超探專(zhuān)用探頭與試塊配置清單
序號(hào) | 名 稱(chēng) | 型 號(hào) | 數(shù)量 | 單位 | 規(guī) 格 |
1 | 小角度縱波探頭 | Φ120 5P 6° | 1 | 只 | 8×10 |
2 | 小角度縱波探頭 | Φ140 5P 6° | 1 | 只 | 8×10 |
3 | 小角度縱波探頭 | Φ160 5P6° | 1 | 只 | 8×10 |
4 | 小角度縱波探頭 | Φ180 5P 6° | 1 | 只 | 8×10 |
5 | 小角度縱波探頭 | Φ200 5P 6° | 1 | 只 | 8×10 |
6 | 小角度縱波探頭 | Φ240 5P 6° | 1 | 只 | 8×10 |
7 | 小角度縱波探頭 | Φ1805P 8° | 1 | 只 | 8×10 |
8 | 小角度縱波探頭 | Φ2405P 8° | 1 | 只 | 8×10 |
9 | 小角度縱波探頭 | 5P 6°平面 | 1 | 只 | 8×10 |
10 | 小角度縱波探頭 | 5P 8°平面 | 1 | 只 | 8×10 |
11 | 并聯(lián)式爬波探頭 | 2．5PΦ120 | 1 | 只 | 8×10×2 |
12 | 并聯(lián)式爬波探頭 | 2．5PΦ140 | 2 | 只 | 8×10×2 6×10×2 |
13 | 并聯(lián)式爬波探頭 | 2．5PΦ160 | 1 | 只 | 8×10×2 |
14 | 并聯(lián)式爬波探頭 | 2．5PΦ180 | 2 | 只 | 8×10×2 6×10×2 |
15 | 并聯(lián)式爬波探頭 | 2．5PΦ200 | 1 | 只 | 8×10×2 |
16 | 并聯(lián)式爬波探頭 | 2．5PΦ240 | 1 | 只 | 8×10×2 |
17 | 并聯(lián)式爬波探頭 | 2．5P平面 | 2 | 只 | 8×10×2 6×10×2 |
18 | 便攜式JYZ-BX（鋼）試塊 | 旋轉(zhuǎn)360° | 1 | 塊 | 模擬裂紋深度1 mm 2mm |
19 | JYZ-G（高強(qiáng)瓷）試塊 | Φ120 | 1 | 塊 | 模擬裂紋深度1.2.3.5mm |
20 | JYZ-Z（中強(qiáng)瓷）試塊 | Φ120 | 1 | 塊 | 模擬裂紋深度1.2.3.5mm |
注：1.支柱絕緣子及瓷套直徑變化20mm時(shí)，專(zhuān)用探頭弧度變化一擋。2.小角度縱波探頭:一般采用入射角6°探頭，跨距大時(shí)可以采用8°探頭?？稍谥睆阶兓?/span>20mm-范圍內(nèi)確定1只探頭,即直徑大的探頭可以探測(cè)直徑小1擋的瓷件例如:Φ180mm的探頭可以用于檢測(cè)Φ160mm的支柱絕緣子。支柱絕緣子及瓷套直徑大于Φ240mm時(shí)可以采用平面探頭。
3.并聯(lián)式爬波探頭:一般采用8×10×2探頭，跨距小時(shí)可以采用6×10×2探頭?？稍谥睆阶兓?/span>20mm范圍內(nèi)確定1只探頭,即直徑大的探頭可以探測(cè)直徑小1~2擋的瓷件.例如: Φ180mm的探頭可以用于檢測(cè)Φ160mm的支柱絕緣子。瓷件直徑大于Φ240mm時(shí)可以采用平面探頭。
4.單套探頭配置參考：標(biāo)準(zhǔn)配置為20只，其中爬波探頭10只，小角度縱波探頭10只。
