PAUT系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)環(huán)焊縫和縱焊縫的檢測，能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)A掃描、B掃描、TOFD灰度圖像、相控陣S掃描成像。使用PA檢測方法彌補(bǔ)了TOFD檢測時(shí)產(chǎn)生的上下表面盲區(qū)的不足，直觀的反應(yīng)出表面及內(nèi)部的埋藏缺陷的形態(tài)。下面介紹PAUT中相控陣檢測、C掃描、TOFD和PA的特點(diǎn)和優(yōu)勢：（一）PAUT系統(tǒng)中相控陣檢測的優(yōu)勢：1. 成像直觀2. 檢測效率高3. 可以存儲(chǔ)檢測記錄4. 可檢測大壁厚零件覆蓋上下表面盲區(qū)（二）C掃描成像的優(yōu)勢檢測除焊縫以外的其他復(fù)雜形狀零件，對(duì)氣孔類缺陷檢出率較高，同時(shí)對(duì)焊帽里面的缺陷也可以檢出（三）TOFD和PA的優(yōu)勢PAUT系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)TOFD和PA相結(jié)合的掃查檢測，該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)A/B/C/S掃查圖像，檢測可以實(shí)時(shí)保存，便于后續(xù)查驗(yàn)審核。

 PAUT系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)環(huán)焊縫和縱焊縫的檢測，能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)A掃描、B掃描、TOFD灰度圖像、相控陣S掃描成像。使用PA檢測方法彌補(bǔ)了TOFD檢測時(shí)產(chǎn)生的上下表面盲區(qū)的不足，直觀的反應(yīng)出表面及內(nèi)部的埋藏缺陷的形態(tài)。下面介紹PAUT中相控陣檢測、C掃描、TOFD和PA的特點(diǎn)和優(yōu)勢：
（一）PAUT系統(tǒng)中相控陣檢測的優(yōu)勢：
1. 成像直觀
2. 檢測效率高
3. 可以存儲(chǔ)檢測記錄
4. 可檢測大壁厚零件覆蓋上下表面盲區(qū)
（二）C掃描成像的優(yōu)勢
檢測除焊縫以外的其他復(fù)雜形狀零件，對(duì)氣孔類缺陷檢出率較高，同時(shí)對(duì)焊帽里面的缺陷也可以檢出
（三）TOFD和PA的優(yōu)勢
PAUT系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)TOFD和PA相結(jié)合的掃查檢測，該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)A/B/C/S掃查圖像，檢測可以實(shí)時(shí)保存，便于后續(xù)查驗(yàn)審核。