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紅外熱相儀設備
QFI是業(yè)界名的紅外熱相儀制造商之一
QFI 是業(yè)界名的紅外熱相儀制造商之一。其原理是通過接收被測樣品的紅外輻射,修正輻射系數(shù),測出樣品表面的溫度分布,從而得到電子元器件和電路的熱失效分析。主要應用于:集成電路元器件失效分析、無損失效分析、細微缺陷探測;
FlukeTiR2FT熱成像儀/
testo890紅外熱像儀
AT31F/AT61F在線式定
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