丞普諾儀器（蘇州）有限公司主營產(chǎn)品有：視頻接觸角測定儀、張力儀、水滴角檢測儀、表、界面儀器的設(shè)計(jì)與開發(fā)、模具保護(hù)監(jiān)視器、視覺類等檢測儀器的定制與開發(fā)。

　　鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對鍍層厚度有了明確要求。

　　X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。

　　X射線膜厚儀采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊。鼠標(biāo)可控制平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)。高分辨率探頭使分析結(jié)果更加。良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護(hù)。

　　鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

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