Inspect F50 掃描電鏡采用*的樣品室真空技術(shù)以及FEI的世界*電子光學(xué)和樣品生產(chǎn)量技術(shù)。只要檢驗(yàn)、表征、工藝控制和 失效分析至關(guān)重要

Inspect F50 掃描電鏡采用*的樣品室真空技術(shù)以及FEI的世界*電子光學(xué)和樣品生產(chǎn)量技術(shù)。只要檢驗(yàn)、表征、工藝控制和 失效分析至關(guān)重要，則Inspect S50和Inspect F50型顯微鏡的高分辨率成像*。
 

Inspect F50 掃描電鏡特點(diǎn)

• 易用且直觀的軟件可確保初學(xué)者也能進(jìn)行高效操作。
• 確保使用穩(wěn)定的高電流 FEG （zui高 200 nA）進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的 EDS 和 EBSD 分析。
• 大幅減少更改加速電壓 （kV） 時(shí)對(duì)鏡筒的調(diào)整。 所有調(diào)整均會(huì)依據(jù)用戶(hù)選擇的加速電壓及/或照射點(diǎn)設(shè)置自動(dòng)執(zhí)行。
• 利用可選射束減速模式獲取導(dǎo)電樣品的表面和成分信息。