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HP系列四探針探頭

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HP系


HP-501型四探針探頭


HP-504型四探針探頭
HP系列四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
◆ 特性及規(guī)格
1
特制之手握式探筆
2
球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
3
探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4
探頭使用壽命長
5
探針間距:1mmm、1.59mm、3.8m;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
◆ 可選配HP系列四探針探頭的型號及規(guī)格
型號
(Model)
曲率半徑
(Radius)
壓力
(loads)
探針間距
(spacing)
探針排列
(Arrangement)
HP-501
0.5mm
100g
3.8mm
直線
HP-502
0.75mm
100g
3.8mm
直線
HP-503
0.1mm
150g
1mm
直線
HP-504
0.5mm
100g
1.59mm
直線
下載HP系列四探針探頭產(chǎn)品資料(PDF)


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