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LP-701型四探針探頭

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LP-701型四探針探頭LP-701型四探針探頭(長把手設計)是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻

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LP-701
LP-701型四探針探頭(長把手設計)是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
◆ 特性及規(guī)格
1
特制之長把手設計手握式探筆,把手長度14cm
2
球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
3
探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4
探頭使用壽命長
5
探針間距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ


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