▉系統(tǒng)概述
Tandem即LA-LIBS復合系統(tǒng)，它可以在獨立的LA模式或LIBS模式下運行，也可以作為LA-LIBS復合系統(tǒng)運行，實現(xiàn)LA-ICP-MS和LIBS之間結果的相互驗證。Tandem既實現(xiàn)了同時進行常量、微量元素及同位素（與ICP-MS聯(lián)用）的全面測量，又實現(xiàn)了包括有機元素、輕質元素、鹵素元素的全周期表測量，并且具有快速元素分布制圖、歸一化ICP-MS等離子體發(fā)射信號、LIBS快速基體匹配修正、LIBS快速掃描樣品、LA深入細節(jié)分析等功能。在軟件方面，功能強大的Clarity Tandem軟件基于光譜和質譜信息，建立光譜和質譜兩個數(shù)據(jù)源疊加的元素譜庫，采用交互驗證的高級校準模型，實現(xiàn)樣品物質中主量元素、次量元素和微量元素的精確定量分析，為不同應用領域提供更強的鑒定分析能力。
▉基本原理
什么是LIBS？
Laser Induced Breakdown Spectroscopy即激光誘導擊穿光譜儀，是一種快速的化學分析方法，它使用短脈沖激光激發(fā)樣品表面制造微等離子體來進行靈敏、準確和精密的元素分析，相比其它方法具有許多明顯的優(yōu)勢，例如：
無需樣品制備
測量時間快至幾秒鐘
可測元素范圍寬，包括輕質元素、有機元素和鹵族元素，如：H, Be, Li, C, N, O, Na, and Mg等
多種采樣方式，包括表面采樣和深度剖面采樣
薄樣品無需擔心襯底干涉
重金屬元素的檢出限低至ppm水平
可用于金屬, 半導體 ,玻璃, 生物組織, 絕緣材料, 塑料, 土壤, 植物, 薄膜涂層,電子材料等元素定量分析
什么是LA？
Laser Ablation即激光剝蝕進樣系統(tǒng)是利用激光照射待測樣品對其進行剝蝕，LA在樣品表面制造出發(fā)光的等離子體，通過分析等離子體發(fā)射光可檢測元素種類和濃度（即LIBS），還可通過載氣將樣品氣溶膠輸送至ICP-MS或ICP-OES分析儀器進行檢測分析。
通過LA技術進行LIBS或LA-ICP-MS分析，具有速度快，無需樣品制備、環(huán)保、安全等優(yōu)勢。
什么是Tandem？
由美國ASI公司推出的一款具有真正突破性進展的激光剝蝕及激光誘導擊穿光譜復合系統(tǒng)，可同時進行LIBS和LA-ICP-MS的檢測（通過聯(lián)接ICP-MS），它通過捕捉激光剝蝕等離子體發(fā)出的光進行快速光譜分析，同時將剝蝕粒子高效地輸送到電感耦合等離子體質譜儀器進行質譜元素或同位素分析。同時進行LIBS和LA-ICP-MS的檢測，兼具二者的檢測優(yōu)勢，以盡可能少的樣品量獲得盡可能多的化學信息。
▉應用領域
l 環(huán)境保護：土壤、植物、水源、大氣中元素的分析，碳循環(huán)研究
l 地球化學：巖石起源鑒定，測定礦物化學組分
l 能源產(chǎn)業(yè)：石油、煤粉中的元素分析，太陽能電池，新型電池研發(fā)
l 考古應用：辨別來源與贗品識別，藝術品材料表征年代估計
l 司法鑒定：如毛發(fā)、血液分析，推斷物質來源，物質分類和鑒別，偽造物分析
l 材料分析：材料的化學成分分析，元素分布情況研究
l 生物醫(yī)學：臨床病變組織分析，病原體微生物分析藥物成分分析
l 食品安全：地溝油，三聚氰胺，瘦肉精及一些視頻添加劑的分析
l 爆炸物分析：爆炸物分析，核物質分析
l 電子產(chǎn)業(yè)：半導體產(chǎn)品中有害物濃度的快速檢測
l 珠寶鑒定：寶石礦物中元素的分布圖
▉技術特點
l 直接LA采樣進樣，可供ICP-MS分析或LIBS分析，或者兩種方法同時分析
l 同時測量主要/痕量元素以及同位素
l 檢測速度快至幾秒
l 可檢測ICP-MS難以測量的輕質元素、有機元素和鹵族元素，如：C、H、O、N、F等
l 可以做整體分析、夾雜物分析、剖面分析、元素分布圖
l 動態(tài)擴展?jié)舛确秶鷱?/span>ppb級至百分比級
l 雙攝像頭成像系統(tǒng)，輕松標識和選擇采樣區(qū)
l 高穩(wěn)定性Q-switched短脈沖Nd:YAG激光
波長213nm 或266nm
脈寬< 5ns @213 nm
l 創(chuàng)新的模塊化系統(tǒng)設計：可用于配置獨立的LA系統(tǒng)、LIBS系統(tǒng)或LA-LIBS復合系統(tǒng)
l 可選3種LIBS檢測器，滿足不同的元素分析需求
l 為確保激光剝蝕的一致性，樣品室配備的自動高度調(diào)整系統(tǒng)，配備激光能量穩(wěn)定器
l 雙視頻成像系統(tǒng)，分別用于高倍成像和寬視野樣品表面成像，輕松定位樣品取樣點
l ASI公司的Flex樣品室，內(nèi)置可互換的嵌入塊，優(yōu)化運輸氣流和顆粒凈化能力
l 微集氣管設計，可消除排氣及記憶的影響
l 雙路高精度數(shù)字流量控制器及電控閥門
l 系統(tǒng)控制分析軟件
控制硬件組件及自動測量
強大的數(shù)據(jù)分析模塊，用于LIBS和LA-ICP-MS分析
LIBS化學計量軟件，用于識別及分類分析
運用多種采樣方法：整體分析、微斑及夾雜物分析、剖面分析和元素分布圖
l 低維護費用
l 可升級至飛秒LA系統(tǒng)
l 來自廠家專家團隊的LA/LIBS應用支持
▉基本參數(shù)
l 激光：高功率調(diào)Q，Nd:YAG 激光，平頂光束剖面
l 波長213 nm 或 266 nm
l 獨立的LIBS系統(tǒng)，波長還有532nm 和1064nm
l 激光波長213 nm或266 nm，單獨的LIBS系統(tǒng)，波長還有532nm和1064nm可選
l 激光斑：
5–250微米 @ 213和266 nm
10-250 微米 @ 532 和 1064 nm
電動光束擴展和孔徑成像相結合
l 能量密度：>20 J/cm2 @ 213 nm
l 剝蝕點目標：@670 nm紅色激光, 樣品高度自動調(diào)整
