紫外線含量檢測(cè)儀基于SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，基于SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，紫外線含量檢測(cè)儀的外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。

紫外線含量檢測(cè)儀

紫外線含量檢測(cè)儀基于SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，基于SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，紫外線含量檢測(cè)儀的外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。紫外線含量檢測(cè)儀集測(cè)量紫外線含量、照度和紫外輻照度三種功能于一體，可應(yīng)用于圖書(shū)、檔案、文物等部門(mén)對(duì)照明光源中紫外線含量的檢測(cè)工作。

紫外線含量檢測(cè)儀的產(chǎn)品特點(diǎn):

1.光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正

2.數(shù)字液晶顯示，帶背光

3.手動(dòng)/自動(dòng)量程切換

4.數(shù)字輸出接口（USB冗余供電）

5.低電量提醒

6.自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)

7.有數(shù)字保持

8.輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

紫外線含量檢測(cè)儀的主要技術(shù)指標(biāo)：

照度：

測(cè)量范圍：( 0.1~199.9×10³ ) lx

相對(duì)示值誤差：±4％

V (λ)匹配誤差：f₁ ≤6%

響應(yīng)時(shí)間：＜ 1s

非線性、換擋、疲勞特性等誤差：符合國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程對(duì)上等照度計(jì)規(guī)定的性能指標(biāo)。

紫外輻照度：

波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)：λ：(315~400)nm；λ_p = 365nm

輻照度測(cè)量范圍：(0.1~199.9×10³) mW/m²

帶外區(qū)雜光：小于0.2％

相對(duì)示值誤差：±10％

響應(yīng)時(shí)間：＜1s

紫外線含量：

測(cè)量范圍：(0.1~9999) mW/lm

相對(duì)示值誤差：±12％

響應(yīng)時(shí)間：＜3s

使用環(huán)境：溫度 (0~40)℃；濕度＜85％RH

尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg

電源：常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只，整機(jī)功耗 ＜0.2VA