我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。
貴金屬檢測儀產(chǎn)品信息：
本儀器專門針對貴金屬測試，采用新的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用新Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV。
應用領域：
貴金屬（Pt、Au、Pd、Ag、Rh等）相關制品的生產(chǎn)、銷售、回收的檢測；
用于各種金屬合金（銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等）的成份分析。
功能：
開放式工作曲線，可以根據(jù)需求建立新工作區(qū)
經(jīng)驗系數(shù)法和基本參數(shù)法相結(jié)合
測試樣品：各種不同形狀樣品，滿足大樣品測試需求
安全性能：迷宮式設計，*達到輻射安全指標
測試操作簡單，實現(xiàn)傻瓜式操作模式
報告模板多樣化，適應各種測試需求
儀器參數(shù)：
分析方法：基本參數(shù)法（定量）
分析元素范圍：Na-U,可同時分析26種元素
測量范圍：ppm-100%
測量時間：100－300s
度：0.1%（常量相對誤差）
分辨率：149±5eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
功率：350W
外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm3）
樣品倉尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm3）
重量：約48Kg
工作環(huán)境：15－30°C，相對濕度≤85%（不結(jié)露）
工作電源：AC220－240V，50/60Hz，350W
標準配置：
探測器： 2級半導體電制冷；探測器晶體厚度500μm；探測靈敏面積6mm2；Be窗厚度為1mil
壓電源：壓范圍0-50kV，功率50W，8h穩(wěn)定性0.05%
X射線管：薄鈹窗側(cè)窗X射線管（Mo靶、Rh靶）
清攝像頭裝置
定位裝置
自動開蓋裝置
貴金屬檢測儀
儀器元素分析范圍：
可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有元素。
儀器的分析模式與元素種類 |
分析模式 | 分析元素 |
元素分析范圍 | 從22號元素鈦到94號元素PU范圍內(nèi)的31種基本元素，在以上范圍內(nèi)，可以根據(jù)客戶需要更換其他元素。 |
Alloy Beam1模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素。 |
Alloy Beam2模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
