電鍍檢測機(jī)器設(shè)備
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測設(shè)備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗、質(zhì)量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。
以下是X熒光光譜儀測試電鍍鍍層的儀器簡介：
鍍層檢測：
常見金屬鍍層有：
鍍層 基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● |
| ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
單層厚度范圍：
金鍍層0－8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內(nèi)，
可最小測量達(dá)0.001um。
多層厚度范圍:
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
鍍層層數(shù)為1-6層
鍍層精度相對差值一般<5%。
鍍層成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。
鍍層分析優(yōu)勢：分析PCB金手指最小尺寸可達(dá)0.2mm
單層分析精度，以Ni舉例：（相對差值）
Ni層厚度(um) | 精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
元素成分分析:
鍍液分析，目前常見鍍液元素分析有：金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。
ROHS 和無鹵檢測，高性能SDD探測器可以精確檢測無鹵,實現(xiàn)鍍層與環(huán)保一機(jī)多用。
金屬成分分析，在檢測ROHS同時可檢測金屬中其他各元素成分含量。
檢測精度：
Cr，Cd，Hg，Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬
檢測限達(dá)1ppm。
對這些金屬測試分析穩(wěn)定的讀取允許差值本儀器已達(dá)到下列標(biāo)準(zhǔn)：
A. 檢測含量大于5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于1%
B. 檢測含量在0.5～5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于2%
C. 檢測含量在0.1～0.5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于5%
D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%
測量精度:
1）精度(單層)：
測厚儀的檢測精度表
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
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測試方法: 在相同的操作條件下，對同一標(biāo)準(zhǔn)樣板進(jìn)行5次檢測，檢測到的平均數(shù)據(jù)與標(biāo)樣板的實際數(shù)據(jù)作比較。檢測精度為檢測平均值與標(biāo)準(zhǔn)樣片實際值之差（平均誤差）
2）兩層及以上：
兩層及以上的首層精度符合單層的測試結(jié)果，但是第二層以上比較復(fù)雜，要根據(jù)上面一層的厚度來決定。在第一層厚度小于2um時，一層和二層的測試精度基本符合單層的精度，參照如下的測試報告，第一層金標(biāo)樣厚度0.101um，第二層鎳的標(biāo)樣厚度為4.52um。
在第一層厚度在2～5um時會大大降低第二層的和第三層的測試精度，第二層的誤差率會在5～10%，第三層的誤差率小于15%。
重復(fù)性:
保證重復(fù)性值:≤±5%
重復(fù)性的檢測應(yīng)在儀器校準(zhǔn)后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續(xù)重復(fù)檢測，連續(xù)測量必須在同一檢測點(diǎn)位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進(jìn)行10次,每次測量值與10次平均值進(jìn)行對比。
重復(fù)性=平均誤差÷平均值×100 %.
報告打?。?/span>
可以PDF，Excel格式輸出報告，歷史數(shù)據(jù)查詢方便
安全使用,維護(hù)與保養(yǎng)
由于儀器非常精密，未經(jīng)允許情況請不要打開儀器外殼，不要對X射線源和探測器進(jìn)行改變，由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負(fù)責(zé)任。
儀器安裝一定要平穩(wěn)，儀器后面離墻距離不得小于30厘米，必須使用標(biāo)準(zhǔn)的220V交流電，電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源，插座必須接地良好，由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負(fù)責(zé)。
請不要用濕的手觸摸電源部分，帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。
進(jìn)行測量時，因為高電壓流至X射線源，儀器運(yùn)行時，不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運(yùn)行或者遵循用戶指南中止。
儀器環(huán)境要求：儀器使用環(huán)境需清潔，溫度適宜15℃~30℃，濕度≤80%,電源：AC: 220V ±5V。
以上細(xì)節(jié)均有可能造成無法預(yù)測后果，買方應(yīng)予以基本遵守。
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