BRUKER Dektak 8探針輪廓儀
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- 公司名稱 上海人和科學儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 上海
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/3/9 7:20:04
- 訪問次數(shù) 6
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Dektak8臺階式探針輪廓儀,結(jié)構(gòu)緊湊,可提供很高的重復性和精度。的XY方向定位系統(tǒng)可移動到8x8inch區(qū)域的任何位置。它不僅能測量臺階高度和表面紋理,還能測量金屬蝕..
Dektak 8臺階式探針輪廓儀,結(jié)構(gòu)緊湊,可提供很高的重復性和精度。的X–Y方向定位系統(tǒng)可移動到8x8inch區(qū)域的任何位置。它不僅能測量臺階高度和表面紋理,還能測量金屬蝕刻速率的均勻性、焊點高度、纖維光學元件和顯微透鏡。全程程序控制的Dektak 8系統(tǒng)對于MEMS,納米技術(shù)和半導體應用都非常方便。
主要特點:
1. 臺階高度測量重復性高
2. 是功能強大的探針輪廓儀,可限度的滿足各種應用需要
3. 簡單易用
4. 作為一款桌面型輪廓儀,掃描范圍可達200mm
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