STS 系列綜合光電性能測(cè)試系統(tǒng)，基于RTS-mini顯微系統(tǒng)而搭建，集成拉曼/熒光/光電流原位測(cè)試功能，配合高精度微米電動(dòng)位移臺(tái)，實(shí)現(xiàn)Raman/PL Mapping及激光誘導(dǎo)光電流成像。深度表征材料內(nèi)部分子振動(dòng)能級(jí)與轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)結(jié)構(gòu)信息，光生載流子的生成與復(fù)合機(jī)制，器件吸收和電荷生成的微區(qū)特性，光電材料界面及半導(dǎo)體結(jié)區(qū)的品質(zhì)分布等。

STS 系列綜合光電性能測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品概述

基于RTS-mini顯微系統(tǒng)而搭建，集成拉曼/熒光/光電流原位測(cè)試功能。該系統(tǒng)可原位探測(cè)拉曼、熒光及光電流信號(hào)。配合高精度微米電動(dòng)位移臺(tái)，實(shí)現(xiàn)Raman Mapping，PL Mapping以及激光誘導(dǎo)光電流成像（LBIC)。深度表征材料內(nèi)部的分子振動(dòng)能級(jí)與轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)結(jié)構(gòu)信息，光生載流子的生成與復(fù)合機(jī)制，器件吸收和電荷生成的微區(qū)特性，光電材料界面以及半導(dǎo)體結(jié)區(qū)的品質(zhì)分布等特性。

STS 系列綜合光電性能測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)