測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
射線在穿透一定的物質(zhì)時,其強(qiáng)度的呈指數(shù)規(guī)律衰減,這和半衰期的公式相似,其公式為: I=Ir*EXP (-UX) ,Tr 為初始射線強(qiáng)度,I為穿過物體后的射線強(qiáng)度,U為衰減系數(shù),X為射線穿過的厚度。
對于不同的材料,其U值是不同的,因此使用射線測量厚度時必須知道被測材料的U值一般而言密度越大的材料其U值就越大,比如鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的,相應(yīng)的射線阻擋能力就越強(qiáng),因此在核技術(shù)實(shí)驗中用作屏障,與之類似的就是鉛玻璃。
測厚儀分為激光測厚儀、X射線測厚儀、紙張測厚儀、薄膜測厚儀、涂層測厚儀、超聲波測厚儀等。
激光測厚儀是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機(jī)相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,滄州歐譜從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機(jī)為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點(diǎn)。
涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
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