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更多>四種針對(duì)軟X射線(xiàn)和極紫外波段的分析和診斷光譜儀
美國(guó)McPherson公司是一家專(zhuān)業(yè)的光譜設(shè)備生產(chǎn)廠商,公司位于波士頓西北部的Chelmsford。自1954年為美國(guó)空氣動(dòng)力實(shí)驗(yàn)室提供第一套光譜儀,服務(wù)于航空航天研究領(lǐng)域,60多年來(lái),McPherson一直致力于為***的研究院所提供*流的光譜測(cè)試設(shè)備。在McPherson的客戶(hù)名單上,包括美國(guó)NIST、中國(guó)TOKAMAK設(shè)備、貝爾實(shí)驗(yàn)室、歐洲聯(lián)合杯JET、奧斯丁核聚變反應(yīng)堆等世界上眾多*流的研究機(jī)構(gòu)。
McPherson公司已形成一條成熟完整的產(chǎn)品線(xiàn),涵蓋從紅外、可見(jiàn)光、紫外、極紫外(EUV)、真空紫外(VUV)直至軟X射線(xiàn)(SXR)波段的所有領(lǐng)域(光譜范圍從<1nm至78μm)。其所生產(chǎn)的設(shè)備包括從小型光譜儀到20多噸重、30多米長(zhǎng)的大系統(tǒng)。光譜儀有的在太空飛行, 也有的可以裝入口袋。這些光譜儀光路設(shè)計(jì)包括正入射、掠入射、Criss-Cross、Czerny-Turner、Corrected Czerny-Turner、Seya-Namioka結(jié)構(gòu)以及McPherson和Schoeffel**設(shè)計(jì),同時(shí)承接光譜儀和光譜光度計(jì)的定制設(shè)計(jì)。
此外,McPherson也提供各種光譜儀相關(guān)配件,如:標(biāo)準(zhǔn)光源,氙燈、氘燈、鎢鹵素?zé)?、汞燈、空心陰極燈、氣體放電燈、單陽(yáng)極/多陽(yáng)極軟X射線(xiàn)源等;標(biāo)準(zhǔn)參考探測(cè)器,可覆蓋真空紫外-紅外波段;各種組件,多通道光纖(多達(dá)100多通道)、耦合器、準(zhǔn)直器、真空樣品室、超高真空組件等。
在McPherson所有的產(chǎn)品中,除了傳統(tǒng)C-T結(jié)構(gòu)光譜儀以及超高分辨率光譜儀以外,最富盛名的就是其真空紫外和軟X射線(xiàn)光譜儀以及基于該類(lèi)光譜儀而開(kāi)發(fā)的一系列產(chǎn)品,如:真空紫外分光光度計(jì)、真空紫外可調(diào)單色光源、VUV熒光粉測(cè)試系統(tǒng)、UV-VIS-IR光譜校準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)等,特別是此類(lèi)產(chǎn)品在***同步加速器以及核聚變研究方面的應(yīng)用,已經(jīng)成為了光譜測(cè)試領(lǐng)域的傳奇。
McPherson部分客戶(hù)
McPherson制造的光譜儀可以在極短的光波長(zhǎng)下工作,從波長(zhǎng)小于1nm,到可見(jiàn)光范圍,其分析和診斷儀器適合您的應(yīng)用,例如,針對(duì)工作在高次諧波(HHG)激光診斷,先進(jìn)半導(dǎo)體極紫外測(cè)量和分析,高溫軟X射線(xiàn)等離子體物理診斷,超高(UHV)或高真空應(yīng)用。McPherson生產(chǎn)開(kāi)發(fā)了大量的光譜儀型號(hào)和光學(xué)設(shè)計(jì)。以下是在許多光譜學(xué)學(xué)科中廣受歡迎的四種光譜儀,這四種光譜儀專(zhuān)為軟X射線(xiàn)和超快極紫外光子源和激光系統(tǒng)的分析和診斷光譜計(jì)量開(kāi)發(fā),可進(jìn)行0.5到500nm以上的光學(xué)測(cè)量。
一、用于測(cè)量低能量深紫外光波長(zhǎng)(50-500nm)
主要為234/302型號(hào),這是一個(gè)非常好的儀器,可從紫外波段覆蓋至波長(zhǎng)30nm,兼顧掃描應(yīng)用和直接探測(cè)CCD快速采集光譜。如果您需要更高的光譜分辨率,可以考慮型號(hào)235或型號(hào)225用于相同的波長(zhǎng)范圍。
234/302實(shí)物圖
234/302——像差校正真空光譜儀,主要特點(diǎn):
可搭配CCD或MCP像增強(qiáng)器的真空光譜儀
工作于30nm-VUV波段
高光通量,f/4.5
可選擇——塔輪,多出口,超高真空(UHV)
234/302實(shí)物圖及多種類(lèi)型可選
系統(tǒng)示例:基于234/302的真空紫外分光光度計(jì)
光譜實(shí)測(cè)數(shù)據(jù):
電離氦、氖發(fā)射光譜測(cè)試
200nm以下氘燈光譜測(cè)試
真空紫外氫光譜測(cè)試
2400g Pt&1200g Al+MgF2
注:采用234/302像差校正光柵搭配直接探測(cè)CCD采集氘燈光譜,光源為帶氟化鎂光窗的氘燈;對(duì)于氫、氦和氖,光源是McPherson 629型號(hào)空心陰極燈;電離氦、氖掃描光譜測(cè)試,采用VUV硅探測(cè)器及凹面像差校正的單色儀光柵(2400 g/mm鍍Pt涂層和1200 g/mm鍍Al+MgF2涂層)。
235與225型號(hào)真空光譜儀
二、針對(duì)高能光譜(1-300nm)的分析和診斷
真空紫外(VUV)248/310型號(hào)符合要求,它可搭配單點(diǎn)探測(cè)器或作為一種采用凹球面光柵的掃描單色儀,狹縫或探測(cè)器沿羅蘭圓掃描,它可配置直接探測(cè)CCD、MCP像增強(qiáng)器一起工作,當(dāng)與光譜光源集成時(shí),可以成為可調(diào)光源,適用于半導(dǎo)體、空間科學(xué)、天體物理學(xué)等領(lǐng)域的計(jì)量和校準(zhǔn)。
248/310搭配直接探測(cè)CCD
248/310搭配MCP像增強(qiáng)器及CCD
基于248/310的可調(diào)光源
注:McPherson掠入射光譜儀可以多種配置以滿(mǎn)足應(yīng)用或?qū)嶒?yàn)要求。如:為了診斷瞬態(tài)等離子體,用戶(hù)可能需要快速收集一系列數(shù)據(jù),并盡可能具有良好的時(shí)間分辨率, 本儀器可配備具有選通能力的MCP像增強(qiáng)器;為了監(jiān)測(cè)一個(gè)窄的光譜區(qū)域(如FEL、HHG X射線(xiàn)激光器),配置CCD可以用于高分辨率的直接探測(cè), CCD讀出需要更長(zhǎng)的時(shí)間,但它們提供了優(yōu)異的靈敏度和響應(yīng)范圍; 對(duì)于測(cè)試材料反射/透過(guò)率或在軟X射線(xiàn)和極紫外波段的校準(zhǔn),248/310可以設(shè)置反向、掃描源及提供特定波長(zhǎng)的樣品或部件用于測(cè)試。
248/310——SXR和EUV羅蘭圓單色儀,主要特點(diǎn):
羅蘭圓光學(xué)系統(tǒng)
1nm到310nm波段范圍
支持掃描狹縫,直接探測(cè)CCD,MCP配置
多種光柵可選
三、以高能光譜診斷為目標(biāo)(0.5-150nm)
251MX型號(hào)是一個(gè)輕松的解決方案。它使用像差校正的衍射光柵,在直接探測(cè)CCD(或門(mén)控MCP像增強(qiáng)器)上產(chǎn)生25毫米寬的平場(chǎng)。多種衍射光柵可供選擇,且可同時(shí)安裝兩塊衍射光柵以提高軟X射線(xiàn)覆蓋范圍。該XUV光譜儀活動(dòng)部件少,在軟X射線(xiàn)(SXR)和真空紫外波段內(nèi)易于使用。
251MX實(shí)物及結(jié)構(gòu)圖
251MX——XUV、SXR和EUV平場(chǎng)光譜儀,主要特點(diǎn):
像差校正光柵
平場(chǎng),直接用MCP或CCD探測(cè)
快速光譜數(shù)據(jù)采集
高真空度10^-6 torr
可選——超高真空(UHV)
實(shí)測(cè)光譜數(shù)據(jù)示例:
雙離子氦光譜測(cè)試
氦和氫光譜測(cè)試
氬I和II離子光譜測(cè)試
氦氖混合氣體光譜測(cè)試
MgO光譜測(cè)試
Al-K光譜測(cè)試
注:MgO光譜是用251MX型號(hào)配置CCD探測(cè)的;300g/mm光柵用于氦和氫數(shù)據(jù);MgO和Al-K數(shù)據(jù)使用2400g/mm光柵;其余為1200g/mm像差校正的平場(chǎng)光柵;光源為McPherson無(wú)窗空心陰極燈和軟X射線(xiàn)(SXR)固態(tài)陽(yáng)極源。
四、離平面(Off Plane)OP-XCT光譜儀
OP-XCT光譜儀使用環(huán)面鏡和平面光柵進(jìn)行點(diǎn)對(duì)點(diǎn)成像,具有固定的入口和出口狹縫位置,掠入射離面光學(xué)系統(tǒng)效率高,時(shí)間展寬低,成像質(zhì)量好,且易于使用。當(dāng)作為串聯(lián)或雙單色儀時(shí),滿(mǎn)足時(shí)間補(bǔ)償,這對(duì)于EUV和SXR短脈沖和超快激光的應(yīng)用是有益的。光譜范圍取決于所選的衍射光柵——提供了四塊可選——通常是8-125nm(10-150eV)。*的非平面光柵幾何結(jié)構(gòu)提供了非常高的衍射效率。它在時(shí)間相關(guān)和角度分辨的光電子能譜(ARPES)以及其他高能研究(如pinch、LPP、同步加速器)中是一種有效的光譜儀。
OP-XCT實(shí)物圖
OP-XCT——SXR、EUV離平面光譜儀,主要特點(diǎn):
點(diǎn)對(duì)點(diǎn)成像
平面,運(yùn)動(dòng)光柵
高光通量
掃描或CCD探測(cè)
示例:發(fā)表于Nature的論文
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展會(huì)城市:重慶市展會(huì)時(shí)間:2024-11-15