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摘要：本文介紹Photek公司開發(fā)出的一款多陽極光電倍增管，其采用微通道板作為增益介質(zhì)，通道數(shù)最多可至4096個。該探測器采用方形設(shè)計，可以*大化有效工作面積。本文分析了探測器在增益、光陰極均勻性、單光子計時精度、計數(shù)率能力、抗串?dāng)_以及磁屏蔽等性能了分析。

1、引言

Photek是一家專業(yè)制造基于真空光電探測器的英國公司。多年來，其一直為慣性約束聚變診斷提供光電倍增管，這些設(shè)備在儀器響應(yīng)函數(shù)、門控能力和動態(tài)范圍都有較好的性能。在這些設(shè)施中，PMT用于檢測多光子、低重復(fù)頻率的信號。

2012年，Photek開始開發(fā)一個新型的多陽極PMT。作為TORCH項目的一部分，該項目旨在為CERN 的LHCb升級提供新的粒子識別系統(tǒng)。因此必須采用方形設(shè)計，能夠長期工作，并能在單光子、高速模式下工作。該設(shè)備可以在一個維度上有嚴(yán)格的位置分辨率。工作壽命也是一個重要問題，Photek通過采用原子層沉積（ALD）對MCP孔的共形涂層，解決了這個問題，并驗證了累積的陽極電荷超過5C.cm-2。這一涂層還可以將MCP收集效率從大約60%提高到大約90%。

本文分析了這個新的MAPMT253的性能，其工作區(qū)域為53X53mm，總共64X64個陽極輸出。

2、均勻性

2.1 光陰極

光陰極面積為28.1cm2，較之通常的像管尺，18毫米、25毫米或40毫米直徑大得多。我們使用了Photek生產(chǎn)的光度計來評估光陰極響應(yīng)的均勻性。該光度計使用寬帶紫外/可見/紅外光源和窄帶濾光片，光斑直徑為11mm。如圖1所示，分別測試5個不同的位置，然后進行對比測試。

圖1. MAPMT253的光陰極均勻性。

2.2 電子增益

雙MCP翼形疊層設(shè)計（Chevron Stack）可以有1X106電子增益，而且最多可達到3X106。因此我們可以獲得良好的單光子信號，同時有很強的計數(shù)率能力。Photek通過4路合并輸出的方式來分析8X8的陽極均勻性分布。圖2分別對中間和邊緣部分進行測試。增益的脈沖高度分布（PHD）直方圖如圖所示，四個通道的峰/谷比大于4，增益的最小/最大比為1.5.

圖2. MAPMT253的電子增益均勻性。

3、單光子計時精度

MCP-PMT在單光子計時精度方面有著較好的優(yōu)勢，其抖動在30皮秒（RMS）以內(nèi)。我們?nèi)圆捎?X8的采樣分析。實驗中使用Photek的LPG-650光源。波長在650nm，脈寬40ps（FWHM）。采用LeCroyWavemaster 808Zi-A示波器，測量每個通道。實驗中我們還用到PD010光電二極管來作為參考信號。在對這些曲線進行高斯擬合后，我們得到主峰的半寬度（FWHM）為31皮秒。如圖3所示：

圖3. MAPMT253的單光子計時精度。

4、計數(shù)率能力

Melikyan團隊對MAPMT253進行了進一步分析，評估在大信號電流情況下的獲取情況。他們測量了信號幅度與平均陽極電流的函數(shù)關(guān)系，并顯示MAPMT253具有的可擴展有用區(qū)域大于1μA.cm-2，相當(dāng)于大于6M counts.s-1.cm-2。這可能是由于MAPMT253中使用的ALD涂層引起的。

5、抗串?dāng)_

在多陽極PMT測試中，一個關(guān)鍵參數(shù)是一個通道的信號有多少會滲入相鄰的陽極。對于這個測量，我們將LPG-650聚焦到約150微米的光斑大小，并在間距為0.828毫米的兩個陽極上進行掃描。信號采集使用64X8模式。單光子增益峰值為1.2X106，閾值為峰值的50%。結(jié)果如圖4顯示。

圖4. MAPMT253的細小間距串?dāng)_。

6、邊緣效應(yīng)

MCP-PMT在非?？拷婵辗庋b（即管壁）的信號接口，經(jīng)常會受到周邊陽極信號的反射影響。我們通過只針對中心S5_5進行多光子脈沖照射，然后分析不同區(qū)域的噪聲影響。如圖5所示：

圖5 MAPMT253使用多光子脈沖測試邊緣效應(yīng)

周邊陽極顯示出一個反轉(zhuǎn)的信號，其幅度約為主脈沖的3%。當(dāng)多光子脈沖的幅度變化時，這一情況并未發(fā)生改變。由于拾取是反轉(zhuǎn)的，我們相信由于這種效應(yīng)不會產(chǎn)生誤觸發(fā)的風(fēng)險。中間陽極（S3_3）只顯示出一小部分的振蕩。

7、磁屏蔽能力

由于此類PMT常在強磁場下工作，而MCP的增益會隨著磁場增大而減小，并且孔徑越大越容易受到影響。在Argonne實驗室，Hattaway等進行了相關(guān)的磁場對增益的影響測試。

圖6. MAPMT253的磁場敏感性測試，顯示磁場對不同總PMT電壓下增益的影響（左圖）以及磁場角度的影響（右圖），在??4100V下操作，其中0表示與輸入窗口垂直。

在與友商比較后發(fā)現(xiàn)MAPMT253性能有更好的抗磁性能！

產(chǎn)品介紹

MAPMT253 多陽極MCP-PMT

特點：

1、430ps脈寬；

2、渡越時間小于40ps；

3、極低的暗計數(shù)；

4、可定制陽極輸出；

5、磁屏蔽性能*。

主要應(yīng)用：

1、環(huán)成像切倫科夫?qū)嶒灒?/span>

2、內(nèi)反射切倫科夫探測；

3、閃爍、切倫科夫 光纖輸出；

4、光束監(jiān)控；

5、時間分辨光譜；

6、LIDAR。

參考文獻：

“Multi-Anode Square Microchannel Plate Photomultiplier Tube “Milnes, J. S. ; Conneely, T. M. ; Hink, P. ; Slatter, C. ; Xie, J. ; May, E.,Journal of Instrumentation, Volume 15, Issue 02, pp. C02036 ,DOI:10.1088/1748-0221/15/02/C02036.