直播推薦
更多>企業(yè)動(dòng)態(tài)
更多>- 吉林省力盛制藥有限公司采購(gòu)佳航的顯微熔點(diǎn)儀JHX-5Plus
- 山東金城醫(yī)藥有限公司采購(gòu)佳航的全自動(dòng)密度計(jì)Digipol-D50
- 祝賀2023年全國(guó)機(jī)械行業(yè)職業(yè)技能競(jìng)賽―“三豐杯” 在浙江杭州順利舉行
- 2023年河北省全省無(wú)損檢測(cè)技能比武暨能力對(duì)比 完滿(mǎn)收關(guān)
- 喜訊 | 智易時(shí)代一項(xiàng)發(fā)明獲歐洲發(fā)明授權(quán)!
- 法國(guó)CA 10101E/CA 10141E/CA 10141水質(zhì)分析儀上市
- 東盛友邦(亳州)制藥有限公司采購(gòu)佳航的全自動(dòng)旋光儀Digipol-P610
- 重慶沃肯新材料科技股份有限公司采購(gòu)佳航全自動(dòng)旋光儀JH-P300
推薦展會(huì)
更多>ISCOMS與光譜儀的結(jié)合:LIBS應(yīng)用中的新視角
概述
激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS, Laser-Induced Breakdown Spectroscopy)是利用高能脈沖激光來(lái)進(jìn)行材料元素成分分析的一種原子發(fā)射光譜的分析技術(shù)。其基本原理是利用高能激光與樣品相互作用。激光脈沖瞬間將樣品表面的微小部分蒸發(fā),并生成高溫、高能的等離子體。等離子體內(nèi)的原子和離子通過(guò)激發(fā)態(tài)回到基態(tài)時(shí)發(fā)射出特定波長(zhǎng)的光子,不同元素的光譜具有特定的波長(zhǎng)和強(qiáng)度,通過(guò)光譜儀采集這些光信號(hào)并進(jìn)行分析,即可得到樣品的元素成分。
LIBS技術(shù)因其制樣簡(jiǎn)單或無(wú)需制樣、適用于各種形態(tài)的物質(zhì)(氣、固、液)、全元素同步分析、快速、實(shí)時(shí)、在線(xiàn)原位、遠(yuǎn)程等特點(diǎn),在元素分析領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。隨著儀器技術(shù)的不斷進(jìn)步,LIBS的應(yīng)用范圍也從實(shí)驗(yàn)室擴(kuò)展到工業(yè)在線(xiàn)檢測(cè)和便攜式應(yīng)用中。
對(duì)于LIBS裝置來(lái)說(shuō),光譜儀和探測(cè)器的分辨率和靈敏度是至關(guān)重要的兩個(gè)性能指標(biāo)。LIBS所采集的光譜是一種由多種元素發(fā)射的復(fù)雜光譜信號(hào),通常包括大量的發(fā)射線(xiàn),這些發(fā)射線(xiàn)可能來(lái)自樣品中的不同元素、不同的電子能級(jí)躍遷,或是在等離子體的不同物理?xiàng)l件下產(chǎn)生。這些發(fā)射線(xiàn)可能存在重疊、交叉甚至是極其接近的情況,準(zhǔn)確解析這些光譜信息變得極為挑戰(zhàn)。光譜儀的分辨率決定了它能否將靠得很近的光譜線(xiàn)有效區(qū)分開(kāi)。如果光譜儀的分辨率不足,兩個(gè)發(fā)射線(xiàn)會(huì)被混淆,導(dǎo)致誤判或無(wú)法正確解析某些元素的存在。這對(duì)于痕量元素的檢測(cè)尤其重要,因?yàn)楹哿吭氐陌l(fā)射線(xiàn)通常較弱且容易被強(qiáng)信號(hào)掩蓋。高分辨率的光譜儀可以將這些發(fā)射線(xiàn)分開(kāi),確保每個(gè)元素的特征光譜得以清晰捕捉和準(zhǔn)確分析。靈敏度則決定了光譜儀能否檢測(cè)到微弱的光譜信號(hào),尤其是在痕量元素或弱發(fā)射元素的分析中起到關(guān)鍵作用。等離子體中的發(fā)射光強(qiáng)度可能因不同的物理和化學(xué)條件而差異顯著,某些元素的發(fā)射信號(hào)相對(duì)較弱。如果光譜儀的靈敏度不足,微弱的光譜信號(hào)可能會(huì)被背景噪聲淹沒(méi),導(dǎo)致重要信息的丟失。靈敏度高的光譜儀不僅可以捕捉到這些微弱的發(fā)射線(xiàn),還能顯著提高信噪比,使得即使在復(fù)雜背景下,也能獲得可靠的光譜數(shù)據(jù)。
本公司推出的IsCOMS相機(jī)與小型化C-T結(jié)構(gòu)光譜儀(Omni系列)具備出色的分辨率和靈敏度,在LIBS的測(cè)試中表現(xiàn)出良好的效果。
測(cè)試效果展示
LIBS測(cè)試裝置示意圖如下所示。激光器使用納秒量級(jí)的脈沖激光器,激發(fā)波長(zhǎng)為1064 nm。光譜儀和相機(jī)使用本公司自研的Omni系列小型化C-T結(jié)構(gòu)光譜儀和IsCOMS相機(jī),搭配配套開(kāi)發(fā)的T-Lab ViewIS軟件,可以輕松獲取、分析和保存光譜數(shù)據(jù)。
圖1 LIBS測(cè)試裝置示意圖
Omni系列光譜儀有200 mm,320 mm,500 mm和750mm焦距的不同型號(hào),光譜儀采用多光柵塔臺(tái)設(shè)計(jì)(至多可配置3塊光柵),適應(yīng)不同光譜波段使用的光柵選擇,覆蓋UV-IR全波段范圍。光柵采用大面積光柵(68×68 mm),提高了光收集效率。測(cè)試使用的光譜儀焦距500 mm,光柵刻線(xiàn)1200 g /mm,閃耀波長(zhǎng) 600 nm,光譜分辨率可達(dá)到0.05nm左右。
測(cè)試使用的IsCMOS相機(jī),能夠?qū)崿F(xiàn)低噪聲、高速、超快門(mén)控拍照。相機(jī)采用高效超快像增強(qiáng)器和1:1光纖面板耦合工藝技術(shù),配合>95% 量子效率科研制冷型sCMOS 相機(jī),具有較低的噪聲和很高的光電轉(zhuǎn)化效率,可以探測(cè)微弱的光譜信號(hào),有助于LIBS對(duì)痕量元素或弱發(fā)射元素的分析。*短光學(xué)快門(mén)寬度小于3 ns,延遲與門(mén)控精度為10 ps,內(nèi)置時(shí)序控制器DDG,滿(mǎn)足LIBS對(duì)光譜采集延時(shí)和門(mén)寬的需求。
圖2 IsCMOS相機(jī)自動(dòng)背景扣除后的本底和汞燈光譜的基線(xiàn)
通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)汞燈和T-Lab ViewIS軟件校準(zhǔn)后,光譜儀掃描拼接譜的光譜準(zhǔn)確度能做到 < 0.2 nm(圖3)。測(cè)試獲得了鋁合金LIBS光譜,如圖4所示,Al元素特征譜線(xiàn)信號(hào)明顯,譜峰位置偏移量小,譜線(xiàn)輪廓清晰。通過(guò)T-Lab ViewIS軟件不同中心波長(zhǎng)掃描多次成譜,可以生成大范圍LIBS光譜(圖5)。
圖3 汞燈的掃描拼接光譜
圖4 鋁合金LIBS光譜(386.7-406.3 nm)
圖5 鋁合金LIBS掃描光譜(200-800 nm)
測(cè)試中采用配套的多芯光纖,通過(guò)線(xiàn)陣排列耦合到光譜儀具有更高的光通量(圖6),搭配上面陣的科學(xué)級(jí)制冷型IsCMOS,裝置具有出色靈敏度,可以檢測(cè)更弱的信號(hào)。本次測(cè)試的LIBS光譜環(huán)境為大氣環(huán)境,樣品除鋁合金還包括PVC(聚氯乙烯)、含Cl混凝土、礦石和空氣(圖7),光譜大致范圍833-843 nm。其中837.594 nm為Cl I譜線(xiàn),PVC和含Cl混凝土光譜圖中對(duì)應(yīng)該特征譜線(xiàn)位置附近存在相應(yīng)峰。并且在Cl混凝土光譜圖中,在0.4 nm距離的較強(qiáng)譜峰干擾下,該譜峰仍能夠被較為清晰的分辨。雖然不能完*排除O II 837.584nm譜線(xiàn)以及分子和基團(tuán)譜線(xiàn)的影響,但混凝土樣品光譜中極大可能測(cè)到了Cl元素的譜線(xiàn)信號(hào)。
圖6 IsCMOS相機(jī)圖像(標(biāo)準(zhǔn)Hg燈546.07nm譜線(xiàn))
圖7 PVC(聚氯乙烯)、含Cl混凝土、礦石和空氣的LIBS光譜
參考文獻(xiàn)
[1] Cremers D A, Radziemski L J. Handbook of laser-induced breakdown spectroscopy[M]. Second edition edition. Chichester, West Sussex: Wiley, A John Wiley & Sons, Ltd, Publication, 2013.
[2] Qiu Y, Guo X, Shi M, et al. Plasma dynamics and chlorine emission characteristics on cement pastes using collinear dual-pulse laser-induced breakdown spectroscopy[J]. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 2023, 209: 106799.
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來(lái)源:儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來(lái)源:儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來(lái)源(非儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀(guān)點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類(lèi)作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來(lái)源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問(wèn)題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
第62屆中國(guó)高等教育博覽會(huì)
展會(huì)城市:重慶市展會(huì)時(shí)間:2024-11-15