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X射線熒光測厚儀的優(yōu)勢及應用領域

2019年12月26日 13:18

　　【儀器網(wǎng) 行業(yè)應用】X射線熒光測厚儀利用被測元素的特征X射線熒光強度與鍍層中待測元素和基材組成有關而研制的儀器設備。相對其他測定方法，具有快速、方便、測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關企業(yè)作為過程控制和檢測使用，是目前應用廣泛的分析儀器。

　　設備優(yōu)勢：

　　1.x射線測厚儀樣品處理方法簡單或無前處理。

　　2.可快速對樣品做定性分析。

　　3.對樣品可做半定量或準定量分析。

　　4.譜線峰背比高，分析靈敏度高。

　　5.不破壞試樣，無損分析。

　　6.試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)

　　7.設備可靠、維修、維護簡單。

　　8.快速：一般測量一個樣品只需要1～3分鐘，樣品可不處理或進行簡單處理。

　　9.無損：物理測量，不改變樣品性質(zhì)。

　　10.準確：對樣品可以分析

　　11.直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快。

　　12.環(huán)保：檢測過程中不產(chǎn)生任何廢氣或廢水。

　　應用領域：

　　廣泛應用于PEC LED.連接器、端子、電阻和電容等電子元件、螺栓和彈簧等五金產(chǎn)品、衛(wèi)浴潔具、汽車零部件、功能性電鍍件、裝飾件、首飾飾品等多個行業(yè)、檢測機構和科研院校。

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