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日本PHL公司雙折射(應(yīng)力)測量儀原理及特點

閱讀:1387      發(fā)布時間:2020-4-17
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  透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因,其內(nèi)部會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力,引起雙折射,晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補償原理,通過對樣品的光程差的定量測定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。
 
  原理:
 
  當光穿透具有雙折射特性的透明物質(zhì)時,光的偏光狀態(tài)會產(chǎn)生變化。換句話說,比較光穿透物體前之后的偏光狀態(tài),即可評估物質(zhì)的雙折射。該設(shè)備裝配的偏光感應(yīng)器,使用了日本PHL公司*的光子晶體技術(shù)組裝而成的偏光感應(yīng)器,能瞬間將偏光資訊以影像方式提取保存。再搭配專屬的演算、畫像處理軟件,能將雙折射分布數(shù)據(jù)定量化,變成可以分析的資料。
 
  用途:
 
  應(yīng)力儀是用來檢查透明物體內(nèi)應(yīng)力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學(xué)玻璃、光學(xué)儀器、玻璃制品、塑料制品等工業(yè)得到廣泛應(yīng)用,而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標的檢驗方面也占有重要地位,在水晶飾品制作、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)領(lǐng)域也有不少應(yīng)用。同時,本儀器也是各大專院校特別理想的教學(xué)實驗設(shè)備。
 
  系統(tǒng)特點:
 
  1、操作簡單/快速測定:*的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布。
 
  2、2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能:二維數(shù)據(jù)的強大分析功能,能夠直觀解釋被測樣品的特性。
 
  3、大相位差測試能力:通過對三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進行計算,WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。

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