卡片扭曲彎曲測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品用途：用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

卡片扭曲彎曲測(cè)試設(shè)備工作原理：是將15張卡片分別將五張卡片放置于長(zhǎng)邊的五個(gè)工位的卡槽上，再將五張卡放置于短邊的五個(gè)工位的卡槽上，最后將五張卡片放置于測(cè)彎扭位置的五個(gè)工位的卡槽上，再機(jī)器的觸摸屏上設(shè)定好試驗(yàn)次數(shù)，最后啟動(dòng)運(yùn)行按扭開(kāi)始實(shí)驗(yàn)，達(dá)到試驗(yàn)次數(shù)自動(dòng)停機(jī)，試驗(yàn)結(jié)束后，檢查卡是否有可測(cè)試的功能。 本機(jī)新型結(jié)構(gòu)合理簡(jiǎn)單，設(shè)計(jì)巧妙，卡片的放置和拾取操作方便，扭曲、彎曲角度可調(diào)節(jié)，角度調(diào)整準(zhǔn)確，測(cè)量結(jié)果可靠，能夠有效提高生產(chǎn)效率。

本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、醫(yī)療保險(xiǎn)卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會(huì)員卡等系列的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)，液晶數(shù)顯IC卡彎扭試驗(yàn)機(jī)主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測(cè)中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測(cè)部門、實(shí)驗(yàn)室等的物理力學(xué)性能、工藝性能的測(cè)試和分板研究，深受廣大用戶青睞。

本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 符合以上標(biāo)準(zhǔn)，自主設(shè)計(jì)按標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行雙向扭轉(zhuǎn)測(cè)試。IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)是采用36W直流調(diào)速電機(jī)作為驅(qū)動(dòng)裝置，通過(guò)調(diào)節(jié)調(diào)速器的電流調(diào)節(jié)旋鈕來(lái)改變驅(qū)動(dòng)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)電流，從而改變電機(jī)的轉(zhuǎn)速使我們的30次/min的測(cè)試速度得以調(diào)節(jié)。

滿足標(biāo)準(zhǔn)：該IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)主要用于測(cè)試IC卡的彎曲、扭矩試驗(yàn)，符合國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1《識(shí)別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡 第1部分：物理特性》，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006《識(shí)別卡 測(cè)試方法 第1部分：一般特性測(cè)試》及ISO10373和ISO7816-1998等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

卡片扭曲彎曲測(cè)試設(shè)備技術(shù)參數(shù)：

1.測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

2.測(cè)試周期：1~9999次

3.扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

4.正反向各15°，總扭曲角度30°

5.長(zhǎng)邊位移量為20mm（+0.00mm,-1 mm）

6.長(zhǎng)邊位移量為2mm±0.50mm，

7.短邊位移量為10mm（+0.00mm,-1 mm）

8.長(zhǎng)邊位移量為1mm±0.50mm，

9.夾具安裝尺寸按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

10.外形尺寸：670×380×220mm

11.長(zhǎng)邊彎曲工位數(shù)：5工位

12.短邊彎曲工位數(shù)：5工位

13.雙向扭轉(zhuǎn)工位數(shù)：5工位

14.儀器重量：約70kg