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識(shí)別卡動(dòng)態(tài)抗彎扭試驗(yàn)機(jī)
識(shí)別卡動(dòng)態(tài)抗彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

型號(hào)： MX(IC) 所在地：南通市參考價(jià)： ￥58601更新時(shí)間：2024/5/14 15:58:22 對(duì)比

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芯片卡動(dòng)態(tài)雙邊彎扭試驗(yàn)機(jī)
芯片卡動(dòng)態(tài)雙邊彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

型號(hào)： MX(IC) 所在地：南通市參考價(jià)： ￥58601更新時(shí)間：2024/5/14 15:55:37 對(duì)比

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IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)
IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)是針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國(guó)際標(biāo)...

型號(hào)： MX(IC) 所在地：南通市參考價(jià)： ￥52680更新時(shí)間：2024/5/14 15:52:51 對(duì)比

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智能卡雙彎曲扭曲測(cè)試機(jī)
智能卡雙彎曲扭曲測(cè)試機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

型號(hào)： MX(IC) 所在地：南通市參考價(jià)： ￥52680更新時(shí)間：2024/5/14 15:50:08 對(duì)比

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智能卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀
智能卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

型號(hào)： MX(IC) 所在地：南通市參考價(jià)： ￥52680更新時(shí)間：2024/5/14 15:47:09 對(duì)比

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智能卡彎曲扭曲測(cè)試機(jī)
智能卡彎曲扭曲測(cè)試機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

型號(hào)： MX(IC) 所在地：南通市參考價(jià)： ￥52860更新時(shí)間：2024/5/14 15:43:37 對(duì)比

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卡片扭曲彎曲測(cè)試設(shè)備
卡片扭曲彎曲測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品用途：用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

型號(hào)： MX(IC) 所在地：南通市參考價(jià)： ￥52801更新時(shí)間：2024/5/14 15:38:33 對(duì)比

卡片扭曲彎曲測(cè)試機(jī)卡片扭曲彎曲測(cè)試儀卡片扭曲彎曲試驗(yàn)機(jī)卡片扭曲彎曲檢測(cè)設(shè)備
IC卡彎曲循環(huán)測(cè)試儀
IC卡彎曲循環(huán)測(cè)試儀本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試...

型號(hào)： MX（IC）所在地：南通市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/9/12 9:27:08 對(duì)比

IC卡彎曲循環(huán)測(cè)試儀IC卡彎曲循環(huán)測(cè)試機(jī)IC卡彎曲測(cè)試儀彎曲循環(huán)測(cè)試儀卡彎曲循環(huán)測(cè)試儀

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