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簡介：Hitachi的掃描電子顯微鏡SU3500高畫質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡,圖象質(zhì)量更進(jìn)一步。通過高畫質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性,凝聚日立先進(jìn)科技“*”。

簡介：產(chǎn)品簡介荷蘭DENSsolutions公司提供技術(shù)先進(jìn)的透射電鏡（TEM）樣品管理解決方案，為客戶提供快捷、可靠的納米尺度原位顯微工具。其應(yīng)用領(lǐng)域包含：納米材料原位加熱研究、碳基納米材料無損成像、...

簡介：荷蘭DENSsolutions公司提供技術(shù)先進(jìn)的透射電鏡（TEM）樣品管理解決方案，為客戶提供快捷、可靠的納米尺度原位顯微工具。其應(yīng)用領(lǐng)域包含：納米材料原位加熱研究、碳基納米材料無損成像、金屬結(jié)構(gòu)...

簡介：產(chǎn)品簡介荷蘭DENSsolutions公司提供技術(shù)先進(jìn)的透射電鏡（TEM）樣品管理解決方案，為客戶提供快捷、可靠的納米尺度原位顯微工具。其應(yīng)用領(lǐng)域包含：納米材料原位加熱研究、碳基納米材料無損成像、...

簡介：結(jié)合飛納臺式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，以較快、較簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺式掃描電鏡，加上顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)的顆粒圖...

簡介：拉伸測試是研究材料面對拉力或壓力反應(yīng)時(shí)的一種較簡單、較常用的測試方法。通過測試樣品在斷裂臨界點(diǎn)時(shí)的受力大小，可以確定出某材料的強(qiáng)度，設(shè)計(jì)師和品質(zhì)經(jīng)理可以通過飛納臺式掃描電鏡拉伸臺預(yù)測該材料在特定領(lǐng)...

簡介：在許多電鏡應(yīng)用中，如果樣品可以傾斜、旋轉(zhuǎn)，用戶就可以得到更豐富的形貌特征。飛納臺式掃描電鏡優(yōu)中心樣品杯就是基于這一目的來研發(fā)的，樣品杯包含了一個(gè)子樣品臺，使用戶可以輕松、安全地從各個(gè)角度觀察樣品。...

簡介：自動硅藻檢驗(yàn)DiatomScopeTM系統(tǒng)為法醫(yī)硅藻檢驗(yàn)提供了可靠高效的解決方案，能自動完成每批各個(gè)樣品的高質(zhì)量的圖像捕捉，實(shí)現(xiàn)地毯式拼圖（可設(shè)置夜間自動運(yùn)行）；用戶從獲取的圖片中逐個(gè)查找、標(biāo)記硅...

簡介：飛納臺式掃描電鏡3D粗糙度重建系統(tǒng)借助3D粗糙度重建模塊，可以產(chǎn)生樣品的3D還原圖像，并進(jìn)行亞微米量級的粗糙度測量。3D粗糙度重建模塊可以幫助用戶更加細(xì)致的分析飛納臺式掃描電鏡所得到的圖像，提取出...

簡介：L3203正置透反射顯微鏡適用于對不透明樣品進(jìn)行顯微觀察。本儀器配置落射照明器、無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和內(nèi)置偏光觀察裝置，具有外型美觀，操作方便等特點(diǎn)，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、...