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簡(jiǎn)介：德國nanofilm公司于1991年開發(fā)出了世界上*臺(tái)Brewster角顯微鏡(BAM)。近幾年來，nanofilm又相繼推出了不同用途的BAM產(chǎn)品以及相應(yīng)的配套儀器。

簡(jiǎn)介：供應(yīng)橢偏儀-美國科學(xué)計(jì)算公司(SCI)供應(yīng)薄膜測(cè)量儀器-美國科學(xué)計(jì)算公司(SCI)供應(yīng)薄膜測(cè)試儀器-美國科學(xué)計(jì)算公司(SCI)

簡(jiǎn)介：激光橢圓偏振測(cè)厚儀（ELLIP-EY）適用于高校教學(xué)和工業(yè)薄膜測(cè)試為一款普及型的測(cè)試儀器。

簡(jiǎn)介：專門針對(duì)晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測(cè)量，能夠測(cè)量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)

簡(jiǎn)介：針對(duì)太陽能電池應(yīng)用，可測(cè)量多晶硅/單晶硅絨面表面單層(二層或多層)減反射膜、和玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。針對(duì)太陽能電池應(yīng)用的光譜橢偏儀基于*的橢偏光路設(shè)...

簡(jiǎn)介：激光系列產(chǎn)品光譜測(cè)試儀器光學(xué)精密機(jī)械光源光學(xué)影像探測(cè)器光學(xué)元件光通信儀器生物分析儀器

簡(jiǎn)介：橢偏儀測(cè)膜厚的優(yōu)點(diǎn)?1.測(cè)量對(duì)象廣泛：可測(cè)透明膜，多層膜和其他性能不同厚度不同的膜。?2.被測(cè)量的薄膜尺寸可以很小。?3.測(cè)量速度快。（7-13s檢測(cè)時(shí)間）?4.光學(xué)測(cè)量方法對(duì)樣品表面損傷zui小...

簡(jiǎn)介：光譜橢偏儀是一種用于探測(cè)薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測(cè)量設(shè)備。由于與樣品非接觸，對(duì)樣品沒有破壞且不需要真空，使得橢偏儀成為一種吸引力的測(cè)量設(shè)備。

簡(jiǎn)介：ELLIP-SR-Ⅰ型產(chǎn)品是集光機(jī)電于一體高精度高穩(wěn)定橢圓偏振光譜儀。從儀器狀態(tài)調(diào)整、參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)采集一直到數(shù)據(jù)處理，均通過計(jì)算機(jī)自動(dòng)完成，可工作于從紫外至近紅外的寬廣光譜區(qū)，波長連續(xù)可調(diào)，入射...

簡(jiǎn)介：橢偏儀SpecELSpecEL-2000-VIS橢偏儀通過測(cè)量基底反射的偏振光，進(jìn)而測(cè)量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEL通過PC控制來實(shí)現(xiàn)折射率，吸光率及膜厚的測(cè)量。