相關(guān)產(chǎn)品分類(lèi)
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- 萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)
- 跌落試驗(yàn)機(jī)、跌落試驗(yàn)臺(tái)
- 電壓擊穿試驗(yàn)儀
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- 沖擊試驗(yàn)機(jī)
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- +表界面物性測(cè)試
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- 低溫箱、低溫試驗(yàn)箱
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- 高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
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最新產(chǎn)品
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簡(jiǎn)介:SDH系列數(shù)顯扭力扳手手采用微處理器數(shù)字化處理,產(chǎn)品示值精確、性能穩(wěn)定,耗電量小,使用方便。廣泛應(yīng)用于汽車(chē)、摩托車(chē)、鐵路、橋梁、壓力容器等對(duì)螺紋緊固力矩有嚴(yán)格要求的行業(yè)。
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簡(jiǎn)介:M-1金相試樣預(yù)磨機(jī)為單盤(pán)臺(tái)式機(jī)。M-1金相試樣預(yù)磨機(jī)適用于對(duì)金相試樣進(jìn)行粗磨、半精磨、精磨操作,是用戶用來(lái)制作金相試樣的設(shè)備。
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簡(jiǎn)介:自動(dòng)西林電橋:DAC-ASM-5C是用于高壓電纜的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試而開(kāi)發(fā)的介質(zhì)損耗角正切(tanδ)專(zhuān)用設(shè)備。適合于電纜及高壓設(shè)備的現(xiàn)場(chǎng)維護(hù)檢測(cè)。改進(jìn)型新設(shè)備帶滾動(dòng)輪,可搬性好。附帶電源,測(cè)試電源為AC2...
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簡(jiǎn)介:UV-313/340型紫外輻照計(jì)適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。UV-313/340型紫外輻照計(jì)外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)...
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簡(jiǎn)介:HJT-16回彈角試驗(yàn)儀用于檢測(cè)導(dǎo)體標(biāo)稱(chēng)直徑0.080mm及以上1.600mm及以下漆包圓線的回彈性,HJT-16回彈角試驗(yàn)儀的回彈度數(shù)停止計(jì)數(shù)時(shí),刻度盤(pán)即停止轉(zhuǎn)動(dòng),使LED顯示和刻度盤(pán)讀數(shù)一致。
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簡(jiǎn)介:分光測(cè)色儀CS-500系列(高精度)產(chǎn)品特點(diǎn):20種顏色測(cè)量指標(biāo),26種評(píng)價(jià)光源、良好的臺(tái)間差,保證多臺(tái)設(shè)備測(cè)量數(shù)據(jù)的一致性、自動(dòng)校準(zhǔn)技術(shù)、8mm/4mm/1mm大小口徑切換(CS-520型)
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簡(jiǎn)介:焦粒電阻率測(cè)定儀焦粒電阻率測(cè)定儀,產(chǎn)品概述:粉末電阻率試驗(yàn)儀主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專(zhuān)用儀器.由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電阻,...
北京冠測(cè)精電儀器設(shè)備有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:我要詢價(jià) -
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簡(jiǎn)介:VM-2000型真空鑲嵌機(jī)尤其是線路板、粉末冶金材料等的鑲嵌。VM-2000型真空鑲嵌機(jī)在電子行業(yè)中。還可與染色劑配合,用于焊接缺陷的檢查。
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簡(jiǎn)介:粉體電阻率測(cè)試儀粉體電阻率測(cè)試儀,產(chǎn)品概述:粉末電阻率試驗(yàn)儀主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專(zhuān)用儀器.由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電阻,...
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簡(jiǎn)介:粉體電阻率測(cè)定儀粉體電阻率測(cè)定儀,產(chǎn)品概述:粉末電阻率試驗(yàn)儀主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專(zhuān)用儀器.由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉末電阻,...
北京冠測(cè)精電儀器設(shè)備有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:我要詢價(jià) -
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簡(jiǎn)介:粉體ap電阻率測(cè)試儀粉體ap電阻率測(cè)試儀,產(chǎn)品概述:粉末電阻率試驗(yàn)儀主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專(zhuān)用儀器.由于粉末材料的密實(shí)度不同,在松裝和振實(shí)密度條件下,所測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測(cè)試粉...
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