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簡介：產(chǎn)品描述：ContourGT-X是實驗室開發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的儀器。

簡介：產(chǎn)品描述：ContourGT-I集多項檢測功能于一身，成為桌上型定量測試儀器。

簡介：產(chǎn)品描述：布魯克NPFLEX三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案。

簡介：粗糙表面的平滑解決方案

簡介：KLA探針式表面輪廓儀P-7KLA是半導體在線檢測設備市場的供應商，在半導體、數(shù)據(jù)存儲、MEMS、太陽能、光電子以及其他領域中有著*的*。P-7是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統(tǒng)，歷經(jīng)技術積累和...

簡介：KLA探針式表面輪廓儀P-17支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。

簡介：MicroXAM-800光學輪廓儀是一款基于白光干涉儀的光學輪廓儀，采用相位掃描干涉技術（PSI）對納米級特征進行測量，以及采用垂直掃描干涉技術（VSI）對亞微米至毫米級特征進行測量。MicroX...

簡介：雙模式三維輪廓儀、臺階儀白光干涉能夠進行高分辨率圖像的掃描，對表面進行分析。兩種工作模式-相移和白光掃描模式,能夠高精度測量粗糙或者光滑的樣品表面。

簡介：Rtec輪廓儀特點：一臺設備上集成非接觸式白光干涉形貌儀+高精度原子力顯微鏡，白光干涉能夠進行高分辨率圖像的掃描，對表面進行分析。兩種工作模式-相移和白光掃描模式,能夠高精度測量粗糙或者光滑的樣品...

簡介：布魯克DektakXT探針式表面輪廓儀是一項創(chuàng)新性的設計，可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)*地位。