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- 萬能試驗(yàn)機(jī)
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- 壓力試驗(yàn)機(jī)
- 振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)
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- 門尼粘度試驗(yàn)機(jī)
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- 電線專用試驗(yàn)機(jī)
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- 紙箱包裝試驗(yàn)機(jī)
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- 沖擊試驗(yàn)缺口拉床
- 沖擊試驗(yàn)缺口投影儀
- 碰撞臺(tái)
- 摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)
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+環(huán)境試驗(yàn)箱
- 臭氧老化試驗(yàn)箱
- 恒溫恒濕試驗(yàn)箱
- 步入式試驗(yàn)箱、步入式實(shí)驗(yàn)室
- 氙燈耐氣候試驗(yàn)箱、氙燈老化試驗(yàn)箱
- 低溫箱、低溫試驗(yàn)箱
- 鹽霧試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)機(jī)、鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
- 高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
- 高低溫交變?cè)囼?yàn)箱
- 高低溫沖擊試驗(yàn)箱/冷熱沖擊試驗(yàn)箱
- 紫外線耐氣候試驗(yàn)箱
- 高低溫試驗(yàn)箱
- 三綜合試驗(yàn)箱
- 淋雨試驗(yàn)箱/淋雨試驗(yàn)裝置
- 砂塵試驗(yàn)箱
- 霉菌試驗(yàn)箱
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- 滴水式試驗(yàn)裝置
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- 玻璃測試機(jī)/玻璃試驗(yàn)設(shè)備
- 其它環(huán)境試驗(yàn)箱
- +無損檢測/無損探傷儀器
- +測厚儀
- +燃燒測定儀
- +其它物性測試儀器及設(shè)備
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簡介:非接觸式金屬膜厚測量儀昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCusTFSeries,這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實(shí)時(shí)測量,對(duì)導(dǎo)電薄膜的膜厚精確測量,表征已被...
上海昊量光電設(shè)備有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:我要詢價(jià) -
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簡介:Xper-IP激光干涉膜厚測量儀Xper-IP是基于公司*的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備
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簡介:在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測量儀-MPROBE70在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測量儀-MPROBE70是一種高性能厚度測量系統(tǒng)
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簡介:薄膜無損檢測系統(tǒng),半導(dǎo)體無損檢測系統(tǒng)l產(chǎn)品特點(diǎn)系統(tǒng)使用獲得zuanli的光聲技術(shù)設(shè)計(jì)無損測量系統(tǒng)
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簡介:薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE60(精確定位測量)MProbe60是一站式系統(tǒng),專為研發(fā)中心和小型制造而設(shè)計(jì)
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簡介:MPROBE50INSITU–實(shí)時(shí)薄膜厚度測量儀原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSITU用于測量薄膜厚度和n原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSITU優(yōu)勢(shì):1
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簡介:美國Semisonsoft膜厚測量儀MProbe-MAKINGTHINFILMSTHICKNESSMEASUREMENTEASY美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以...
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簡介:微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE40MSPMProbe40測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標(biāo)在小地方
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簡介:手持式膜厚測量儀-MProbe20HC(彎曲表面)手持式膜厚測量儀-MProbe20HC(彎曲表面)基于MProbe20平臺(tái)可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度,MProbe20具有專為單層和雙層...
上海昊量光電設(shè)備有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地:我要詢價(jià) -
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簡介:Mprobe20單點(diǎn)薄膜測量儀MProbe20是一款桌面式單點(diǎn)薄膜厚度測量系統(tǒng),只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)就可進(jìn)行薄膜厚度和折射率測量,測量厚度范圍1nm-1mm
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