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簡介：高分辨率激光便攜式、高分辨率、高動態(tài)范圍激光干涉儀！超分辨剪切干涉儀(High-resolution)是一款便攜式、高靈敏度、高精度的

簡介：XperWLI白光XperWLI是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器

簡介：法布里-珀羅光纖法布里-珀涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設(shè)計

簡介：Difrotec點衍射激光-大口徑（≥700mm）高精度（≤0.6nmRMS）Difrotec點衍射激光干涉儀--大口徑（≥700mm）、高精度（≤0.6nmRMS），不需要出口許可

簡介：納米表面輪廓儀IMOS納米表面輪廓儀實現(xiàn)了精確、定量、iso兼容、非接觸式表面測量和表征微和納米尺度的表面特征，在短短幾秒鐘內(nèi)可捕獲多達200萬個數(shù)據(jù)點

簡介：皮米精度位移激光（可試用）昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量儀quDIS是對納米級別的位移波動進行量測的理想儀器，基于其的測量原理，相對距離的重復(fù)精度達到了的50皮米

簡介：SJ6000高穩(wěn)定性國產(chǎn)激光干涉儀的測量原理主要包括相位測量和位移測量。相位測量是通過測量干涉條紋的相位差來計算被測量物體的形狀、位置等參數(shù)；位移測量是通過測量干涉條紋的位移來確定物體的位移量。這...

簡介：sj6000國產(chǎn)激光干涉儀器測量分辨率0.01″，系統(tǒng)測量精度為±1″，基準(zhǔn)WR50自動精密轉(zhuǎn)臺重復(fù)精度為0.2″。主要特點是小巧便攜、功能強、無線操作。具有測量精度高、測量速度快、高測速下分辨率...

簡介：SJ6000sj6000激光干涉儀器以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，是高精度、高靈敏度測量儀器，廣泛應(yīng)用于機床、機器人、3D打印設(shè)備、精密機械設(shè)備、精密檢測儀器、三坐標(biāo)、自動化設(shè)備、...

簡介：INT10-M單片邁克爾遜干涉儀專為熟悉該領(lǐng)域的設(shè)計師所設(shè)計，主要用于構(gòu)建中紅外FTIR光譜儀。采用PLX的單片光學(xué)結(jié)構(gòu)技術(shù)TM（MOSTTM）。該裝置是中紅外FTIR光譜儀的主要光學(xué)元件，孔徑2...