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簡介：低價(jià)格的小型LD干涉儀。用于多種少量的小型鏡片的生產(chǎn)現(xiàn)場上的快速品質(zhì)檢查。通過簡單操作來進(jìn)行檢查。

簡介：低價(jià)格的小型LD干涉儀。手掌大小、操作簡便。只要放置被檢鏡片，便可簡單迅速地進(jìn)行測定。

簡介：透過波面測定干涉儀KIF-PU是解析光學(xué)部品的透過波面像差的干涉儀系統(tǒng)。特別在光讀取頭用的生產(chǎn)線中，是評(píng)價(jià)對物透鏡以及準(zhǔn)直透鏡的透過波面的系統(tǒng)。

簡介：應(yīng)用了KIF-10A，用于測量光圈數(shù)目的測定儀。通過光圈數(shù)目與元器的比較，可簡單地短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測定。因采用非接觸的測定方式，不用擔(dān)心會(huì)破壞鏡片面以及元器。是在制造現(xiàn)場的工序測定中*的新檢測工具。

簡介：使用在生產(chǎn)制造顯微鏡·光學(xué)拾波等過程中培育的小口徑測量技術(shù)，開發(fā)而來的使用簡單小型干涉儀。

簡介：安裝在KIF-202/KIF-402系列干涉儀上，通過條紋掃描方式取得被測物的波面相位并顯示且保存測定結(jié)果的干涉條紋解析系統(tǒng)。用于*以及生產(chǎn)現(xiàn)場中對平面以及球面的面精度進(jìn)行定量評(píng)價(jià)。

簡介：干涉條紋數(shù)值化配套元件KIF-FS10A，是指將從干涉儀系統(tǒng)KIF-10A系列的干涉條紋得出的像差數(shù)值化顯示的系統(tǒng)。

簡介：一次安裝能夠同時(shí)測量線性軸的六個(gè)誤差，包括1個(gè)位置度誤差、2個(gè)直線度誤差、3個(gè)角度誤差。在通常情況下需要數(shù)天時(shí)間進(jìn)行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個(gè)小時(shí)即可完成，實(shí)際應(yīng)用結(jié)果表明，節(jié)省時(shí)間可達(dá)...

簡介：Renishaw提供品種繁多的精密光柵測量系統(tǒng)，包括高速直線光柵、平面光柵和圓光柵?？梢詰?yīng)用于三坐標(biāo)測量機(jī)、運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)、電子設(shè)備、半導(dǎo)體加工設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備、掃描/印刷、科學(xué)儀器、超高精度機(jī)器和裝置、...

簡介：由德國JENAer公司生產(chǎn)的微位移測量激光干涉ZLM800儀，主要用于微位移部件的測量，角度變化量的監(jiān)測，運(yùn)動(dòng)平臺(tái)變化量的檢測，及光刻機(jī)幾何量的測量，數(shù)控機(jī)床幾何量的測量等。