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簡介：設(shè)備介紹離子減薄儀（PrecisionIonPolishingSystem），為整套TEM樣品制備的道工序，經(jīng)氬離子減薄的樣品可在TEM下直接觀察，入射角可以從10至-10，制樣速度快，能夠以最小...

簡介：GL2011離子減薄儀離子拋光儀由國內(nèi)很好的專家精心設(shè)計(jì)制作，性能穩(wěn)定，應(yīng)用廣泛，可對金屬、非金屬、陶瓷、礦物、半導(dǎo)體、骨骼、牙齒等幾乎所有固體材料進(jìn)行精密減薄處理。

簡介：LeicaEMRES102多功能離子減薄儀通過離子槍激發(fā)獲得離子束，以一定入射角度對樣品進(jìn)行轟擊，以去除樣品表面原子，從而實(shí)現(xiàn)對樣品的離子束加工。

簡介：離子減薄儀*設(shè)計(jì)的實(shí)時聚焦系統(tǒng)，會根據(jù)加速電壓的不同，自動調(diào)整聚焦磁場強(qiáng)度，聚焦離子束。（與永磁鐵的固定磁場不同）確保在低電壓時，也具有超高的能量密度

簡介：SELAEM3預(yù)減薄系統(tǒng)是一個全自動化的電鏡樣品減薄系統(tǒng)，它制備的TEM/SEM樣品可以用來觀測橫截面和平面。

簡介：ZB-YQ69離子減薄儀系統(tǒng)采用聚光光源，減薄過程無離子束遮擋。適用性廣泛，可制備金屬、非金屬、陶瓷、礦物、半導(dǎo)體、骨骼、牙齒等幾乎所有固體材料。

簡介：LeicaEMRES101多功能離子減薄儀通過離子槍激發(fā)獲得離子束，以一定入射角度對樣品進(jìn)行轟擊，以去除樣品表面原子，從而實(shí)現(xiàn)對樣品的離子束加工。

簡介：LeicaEMRES102離子減薄儀通過離子槍激發(fā)獲得離子束，以一定入射角度對樣品進(jìn)行轟擊，以去除樣品表面原子，從而實(shí)現(xiàn)對樣品的離子束加工。LeicaEMRES102主要功能為：對無機(jī)薄片樣品進(jìn)行...

簡介：徠卡多功能離子減薄儀LeicaEMRES102通過離子槍激發(fā)獲得離子束，以一定入射角度對樣品進(jìn)行轟擊，以去除樣品表面原子，從而實(shí)現(xiàn)對樣品的離子束加工。LeicaEMRES102主要功能為：對無機(jī)薄...