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IC卡彎曲扭轉(zhuǎn)測(cè)試儀現(xiàn)貨簡(jiǎn)介:本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1,國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-199...
蘇州IC卡彎曲扭轉(zhuǎn)測(cè)試儀簡(jiǎn)介:本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1,國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-199...
RFID電子標(biāo)簽抗扭曲試驗(yàn)機(jī)主要用于RFID電子標(biāo)簽抗扭曲性能的檢測(cè)和少量電子標(biāo)簽抗彎曲應(yīng)力性能的檢測(cè)。
IC卡扭曲測(cè)試儀主要用于RFID電子標(biāo)簽抗扭曲性能的檢測(cè)和少量電子標(biāo)簽抗彎曲應(yīng)力性能的檢測(cè)。
智能卡扭曲測(cè)試儀用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
芯片卡滾壓實(shí)驗(yàn)機(jī)根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試,適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試,將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間,將芯片在三...
IC卡滾壓測(cè)試儀價(jià)格根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試,適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試,將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間,將芯片...
三輪測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試,適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試,將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間,將芯片在三個(gè)鋼制...
IC卡滾壓測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試,適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試,將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間,將芯片在三...
三輪滾壓測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試,適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試,將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間,將芯片在三個(gè)...
卡片滾壓儀器根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試,適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試,將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間,將芯片在三個(gè)鋼...
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